[发明专利]一种具有双高栅的4H-SiC金属半导体场效应晶体管有效

专利信息
申请号: 201610255961.6 申请日: 2016-04-22
公开(公告)号: CN105932047B 公开(公告)日: 2019-12-17
发明(设计)人: 贾护军;马培苗;杨志辉;柴常春 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: H01L29/10 分类号: H01L29/10;H01L29/423;H01L29/78
代理公司: 61254 西安中科汇知识产权代理有限公司 代理人: 韩冰
地址: 710071*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明涉及一种具有双高栅的4H‑SiC金属半导体场效应晶体管,自下而上包括4H‐SiC半绝缘衬底、P型缓冲层、N型沟道层,N型沟道层的两侧分别为源极帽层和漏极帽层,源极帽层和漏极帽层表面分别是源电极和漏电极,N型沟道层上方且靠近源极帽层的一侧形成栅电极,栅电极在N型沟道左侧、右侧、中间分别形成左沟道凹陷区、右沟道凹陷区、中间沟道凹陷区,所述沟道表面和栅电极之间形成左高栅区域和右高栅区域。本发明的优点体现在:漏极电流提高;击穿电压提高;频率特性改善。
搜索关键词: 一种 具有 双高栅 sic 金属 半导体 场效应 晶体管
【主权项】:
1.一种具有双高栅的4H-SiC金属半导体场效应晶体管,其特征在于,自下而上包括4H‐SiC半绝缘衬底(1)、P型缓冲层(2)、N型沟道层(3),N型沟道层(3)的两侧分别为源极帽层(4)和漏极帽层(5),源极帽层(4)和漏极帽层(5)表面分别是源电极(6)和漏电极(7),N型沟道层(3)上方且靠近源极帽层的一侧形成栅电极(10),栅电极(10)在N型沟道(3)左侧、右侧、中间分别形成左沟道凹陷区(8)、右沟道凹陷区(9)、中间沟道凹陷区(11),所述沟道表面和栅电极(10)之间形成左高栅区域(13)和右高栅区域(12)。/n
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