[发明专利]一种非挥发性存储器的自测试方法和装置有效
| 申请号： | 201610258052.8 | 申请日： | 2016-04-21 |
| 公开（公告）号： | CN107305790B | 公开（公告）日： | 2020-07-31 |
| 发明（设计）人： | 胡洪 | 申请（专利权）人： | 北京兆易创新科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/12 | 分类号： | G11C29/12 |
| 代理公司： | 北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319 | 代理人： | 苏培华 |
| 地址： | 100083 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种非挥发性存储器的自测试方法和装置，非挥发性存储器包括自测试控制器，非挥发性存储器的第一预设存储空间存储测试设备写入的启动标志、最大测试次数和待测试项目信息，方法包括：在上电后，通过自测试控制器判断启动标志是否为使能标志；如果是，通过自测试控制器根据待测试项目信息对非挥发性存储器进行测试，直至对各待测试项目的测试次数等于最大测试次数，或直至任一待测试项目的测试结果为非挥发性存储器失效，设置第一预设存储空间中的启动标志为无效标志；通过自测试控制器记录对应的项目失效信息至非挥发性存储器的第二预设存储空间。本发明使得老化测试简单方便，大幅降低了老化测试对测试设备的要求，测试成本更低。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 挥发性 存储器 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种非挥发性存储器的自测试方法，其特征在于，所述非挥发性存储器包括自测试控制器，所述非挥发性存储器的第一预设存储空间存储测试设备写入的启动标志、最大测试次数和待测试项目信息，所述自测试方法包括以下步骤：在所述非挥发性存储器上电后，通过所述自测试控制器判断所述启动标志是否为使能标志；当所述启动标志为使能标志时，通过所述自测试控制器根据所述待测试项目信息对所述非挥发性存储器进行测试，直至对所述待测试项目信息对应的各待测试项目的测试次数等于所述最大测试次数，或直至任一待测试项目的测试结果为所述非挥发性存储器失效，设置所述第一预设存储空间中的所述启动标志为无效标志；其中，若任一待测试项目的测试结果为所述非挥发性存储器失效，则通过所述自测试控制器记录对应的项目失效信息至所述非挥发性存储器的第二预设存储空间。
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