[发明专利]一种基于双峰模式判别的织物材料表面疵点分割方法在审
申请号: | 201610263916.5 | 申请日: | 2016-04-26 |
公开(公告)号: | CN105913440A | 公开(公告)日: | 2016-08-31 |
发明(设计)人: | 高卫东;厉征鑫;周建;潘如如 | 申请(专利权)人: | 江南大学 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00 |
代理公司: | 上海统摄知识产权代理事务所(普通合伙) 31303 | 代理人: | 金利琴 |
地址: | 214071 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明涉及一种基于双峰模式判别的织物材料表面疵点分割方法,首先对织物材料表面图像进行灰度分布统计,依次进行单高斯曲线拟合和双高斯曲线拟合,并计算拟合误差;然后进行双峰模式判别:当单高斯曲线拟合误差较大且双高斯曲线拟合误差明显小于单高斯曲线拟合误差时,将图像认作为双峰模式图像,否则将图像认作为单峰模式图像;根据判别结果,对图像使用不同阈值方法进行二值化操作,单峰模式图像采用具有判断作用的阈值方法,双峰模式图像采用将图像强制分割为前景与背景的阈值方法;二值化操作得到的图像中,值为0的像素为疵点区域,值为255的像素为无疵区域。本发明解决了单一阈值方法产生的问题;可应用于多种织物材料表面检测。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 双峰 模式 别的 织物 材料 表面 疵点 分割 方法 | ||
【主权项】:
一种基于双峰模式判别的织物材料表面疵点分割方法,其特征是包括以下步骤:(1)首先对织物材料表面图像进行灰度分布统计得到灰度分布曲线,然后对灰度分布曲线依次进行单高斯曲线拟合和双高斯曲线拟合,并计算拟合误差;(2)双峰模式判别:当单高斯曲线拟合误差较大且双高斯曲线拟合误差明显小于单高斯曲线拟合误差时,将图像认作为双峰模式图像,否则将图像认作为单峰模式图像;(3)根据双峰模式判别结果,对图像使用不同阈值方法进行二值化操作,单峰模式图像采用具有判断作用的阈值方法,双峰模式图像采用将图像强制分割为前景与背景的阈值方法;(4)二值化操作得到的图像中,值为0的像素为疵点区域,值为255的像素为无疵区域。
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