[发明专利]复合材料X射线数字成像检测用穿透曲线的制作方法

摘要

本发明属于无损检测技术领域。采用相同的材料制作槽型像质计和不同厚度范围的复合材料厚度参比试样；制作X射线穿透曲线。本发明涉及的复合材料X射线数字成像检测用穿透曲线的制作方法，包括槽型像质计制作、复合材料厚度参比试样制作、最佳X射线穿透率确定、X射线穿透曲线制作及拟合过程，采用与槽型像质计相同的材料制作厚度参比试样；以最佳X射线穿透率为基准，绘制厚度与检测电压的关系曲线并进行曲线拟合，得到复合材料厚度与检测电压关系的曲线拟合公式。该制作方法，拟合度R²≮0.99，具有制作简单、适用性广、可靠性高、准确性高、成本低等优点。适用于复合材料X射线数字成像检测领域，特别适用于复合材料X射线数字成像检测电压的选择。

主权项

1.一种复合材料X射线数字成像检测用穿透曲线的制作方法，包括槽型像质计制作、复合材料厚度参比试样制作、最佳X射线穿透率确定、X射线穿透曲线制作及曲线拟合过程：槽型像质计制作：参照GJB 1038.2A‑2004制作纤维增强复合材料槽型像质计；复合材料厚度参比试样制作：采用与槽型像质计相同的材料制作一组与之匹配的不同厚度的复合材料厚度参比试样；最佳X射线穿透率确定：在复合材料厚度参比试样靠近射线源端贴上槽型像质计，采用不同检测电压对其进行X射线实时成像检测，利用式(1)计算得到相应检测电压下的相对灵敏度，当相对灵敏度的最小数值满足GJB1038.2A‑2004表3要求时，利用式(2)计算其所对应的X射线穿透率，得到最佳X射线穿透率Po；Sw＝(h/T)×100％             (1)式中：Sw为相对灵敏度，％；h为扫描图像中可辨认槽型像质计的最浅槽深，mm；T为透照厚度，mm；P＝E1/E0           (2)式中：P为X射线穿透率，％；E0为穿过被检测工件前的X射线能量，eV；E1为穿过被检测工件后的X射线能量，eV；X射线穿透曲线制作：以最佳X射线穿透率Po为基准，分别对不同厚度复合材料厚度参比试样进行X射线实时成像检测，获取对应厚度复合材料厚度参比试样的检测电压，绘制厚度与检测电压的关系曲线X射线穿透曲线并进行曲线拟合，得到复合材料厚度与检测电压关系曲线的拟合公式。