[发明专利]用于测量CT扫描层厚度的装置和方法在审
申请号: | 201610264442.6 | 申请日: | 2016-04-26 |
公开(公告)号: | CN105997123A | 公开(公告)日: | 2016-10-12 |
发明(设计)人: | 王焕宁;黄艳;赵志华;高春柳;吴锦铁;罗琛 | 申请(专利权)人: | 北京市计量检测科学研究院 |
主分类号: | A61B6/03 | 分类号: | A61B6/03 |
代理公司: | 北京思创毕升专利事务所 11218 | 代理人: | 孙向民;张清芳 |
地址: | 100029 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提出了一种用于测量CT扫描层厚度的装置和方法。所述装置包括:装置本体,为实体结构;螺旋线,其嵌入在所述装置本体中,与所述装置本体紧密结合。本公开通过对测量装置中内嵌的螺旋线进行投影测量,进而得到扫描层的实际层厚。在测量过程中,测量装置的摆放位置与进床的位置允许有不超过5°的误差,摆放精度要求低。此外,无需多次测量就可以获得实际厚度,而且纵向分辨力远优于现有技术中的三角投影法。 | ||
搜索关键词: | 用于 测量 ct 扫描 厚度 装置 方法 | ||
【主权项】:
一种用于测量CT扫描层厚度的装置,其特征在于,所述装置包括:装置本体,为实体结构;螺旋线,其嵌入在所述装置本体中,与所述装置本体紧密结合。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京市计量检测科学研究院,未经北京市计量检测科学研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201610264442.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。