[发明专利]一种基于CCD的LED芯片显微表面亮度的测量方法

摘要

一种基于CCD的LED芯片显微表面亮度的测量方法，涉及LED亮度测量。1)获取亮度标准值；2)获取亮度测量值；3)测量LED芯片显微表面亮度。弥补现有的LED芯片表面亮度量化测量的空缺，可以对LED芯片表面的亮度分布进行测量。在一定曝光时间下，只需获取图像的灰度值，就能准确有效地测量出LED芯片显微表面的亮度分布情况，并能对LED芯片显微表面的亮度进行量化分析。

主权项

1.一种基于CCD的LED芯片显微表面亮度的测量方法，其特征在于包括以下步骤：1)获取亮度标准值，具体方法如下：打开实验装置的温控源与光谱仪，利用电流源供给LED电流，并将发光的LED放置于积分球的一侧开孔处，再在积分球另一侧开孔处形成一个均匀发光面，利用成像光度探头采集发光面的光信号，并通过光纤传输至光谱仪进行分析，得到一系列电流点下相应的亮度标准值L；2)获取亮度测量值，具体方法如下：将成像光度探头替换为摄像头，设置摄像头的曝光时间，并利用摄像头对一系列电流点下的发光面进行拍照，再获取对应电流点下的图像灰度值；在成像系统中，摄像头所测的目标亮度标准值与图像灰度值以及摄像头曝光时间的对应关系如式(1)所示： L = 4 π τ F 2 T 10 D - m v ... ( 1 ) ]]>其中,F为相机光圈数，τ为光透过率，v和m为常数；对式(1)中的进行二次展开后，式(1)转化为： L = 4 π τ F 2 T [ M · D 2 + N · D ] ... ( 2 ) ]]>其中,M和N为常数，可根据不同因素确定；在保持光圈不变的情况下，亮度标准值L仅与曝光时间T和图像灰度值D有关，为了区分常量与变量，将曝光时间T记为t，则式(2)转化为： L , = A · D 2 + B · D t ... ( 3 ) ]]>其中，A、B均为常数系数，此时，根据式(3)，便计算出亮度测量值L’；3)测量LED芯片显微表面亮度，具体方法如下：将摄像头与显微镜相连接，在暗室中对LED芯片进行显微拍照，获取LED芯片的显微表面图像；在一定的曝光时间t下，获取图像上某个像素点(x,y)的灰度值D(x,y),根据式(3)，便计算出该像素点(x,y)的亮度值L(x,y)。