[发明专利]电容式触控导线结构及其制备方法在审

专利信息
申请号: 201610269846.4 申请日: 2016-04-27
公开(公告)号: CN105930017A 公开(公告)日: 2016-09-07
发明(设计)人: 黄亮;蒋蔚;陈凯;黄受林;黄海东 申请(专利权)人: 深圳力合光电传感股份有限公司
主分类号: G06F3/044 分类号: G06F3/044
代理公司: 深圳中一专利商标事务所 44237 代理人: 张全文
地址: 518000 广东省深圳市光明新区*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明提供一种电容式触控导线结构的制备方法,包括以下步骤:准备玻璃基板;通过磁控溅射的方法在玻璃基板一板面上沉积出二氧化硅膜层;通过磁控溅射的方法在二氧化硅膜层上沉积出连接过渡层,连接过渡层是由第一金属材料制成的连接过渡层,所述第一金属材料为钼或钼镍合金;通过磁控溅射的方法在连接过渡层上沉积出用于与ITO薄膜导体层电连接的导电层,导电层为由纯铜制成的导电层;在导电层上渡用于防止导电层氧化的氧化保护层。本发明通过铜材制成的导电层降低了金属引线的线阻,再通过二氧化硅膜层与连接过渡层较好地附着在一起,从而避免金属引线从二氧化硅膜层脱落。
搜索关键词: 电容 式触控 导线 结构 及其 制备 方法
【主权项】:
一种电容式触控导线结构的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:准备玻璃基板;通过磁控溅射的方法在所述玻璃基板一板面上沉积出二氧化硅膜层;通过磁控溅射的方法在所述二氧化硅膜层上沉积出连接过渡层,所述连接过渡层是由第一金属材料制成的连接过渡层,所述第一金属材料为钼或钼镍合金;通过磁控溅射的方法在所述连接过渡层上沉积出用于与ITO薄膜导体层电连接的导电层,所述导电层为由纯铜制成的导电层;在所述导电层上渡用于防止所述导电层氧化的氧化保护层。
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