[发明专利]一种数模混合信号芯片测试系统及方法

摘要

本发明公开了一种数模混合信号芯片测试系统及方法，该系统包括有USB通信模块、在线检测模块、DAC测量模块、显示报警模块、线性扫描模块和差错处理模块，上述的模块均集成于ARM处理器中；该系统及方法具备多芯片在线检测、自动和手动相结合、实时记录保存数据和系统差错处理等功能，节省硬件成本和软件设计周期，同时，还能够避免外搭电路带来的不稳定因素。

主权项

1.一种数模混合信号芯片测试系统，其特征在于该系统包括有USB通信模块、在线检测模块、DAC测量模块、显示报警模块、线性扫描模块和差错处理模块，上述的模块均集成于ARM处理器中，其中：USB通信模块，接收控制命令、发送信号量数据、USB电源管理、端点分配管理、类私有管理函数、中断函数、USB描述符、USB枚举、USB读写传输、命令解析和数据传输功能；所述信号量数据是发送ADC采集被测芯片DAC的信号量数据，所述USB电源管理是利用ARM处理器内置的USB模块实现对USB电源管理；在线检测模块，检测被测芯片是否放置正确和接触是否良好，没有放置正确或接触不良，将提示用户重新放置，以确保测试数据的有效性；DAC测量模块，实现选择被测DAC芯片、初始化外部ADC模数转换器和DAC数模转换器、配置寄存器参数、读取外部ADC采集的被测芯片DAC信号量数据、发送外部DAC所需的模拟信号的数字量、数据封装、USB数据打包功能；显示报警处理模块，在ARM程序执行过程中，读取各个芯片各功能模块的状态信息，并根据不同的状态信息进行相应的警示；线性扫描模块，完成外部DAC对被测芯片ADC模块输入高精度模拟信号量，将被测芯片的ADC将输入的模拟量转换成对应的数字量，并将数字量通过SPI总线输出给ARM，封装成USB数据报格式，发送给PC并进行相应的显示；差错处理模块，主要是处理ARM与外围器件的连接性是否被成功建立起来，包含与PC建立的USB连接、DAC测量模块运行过程的错误处理机制，差错处理实现接口接收数据效验机制，数据出错处理及数据重传，超时处理，MCU与DUT在通信中数据的读写需要相应的等待时间，如果超出程序设定的时间则会进行溢出处理；校验处理，当接收到的效验码与计算出的效验码不匹配时丢弃本次数据重新接收。