[发明专利]一种具有B扫功能的薄板超声检测方法

摘要

一种具有B扫功能的薄板超声检测方法：将超声波探头分别连接超声波探伤仪以及对准待测薄板；判断是选择A或B扫方式；A扫方式调整好超声波探头和待测薄板的位置，进行探伤；判断波门是否出现缺陷，是继续，否则仍探伤；保持峰值并定位，然后显示；选择B扫方式，超声波探伤仪开机进入B扫方式界面；调整好超声波探头和待测薄板的位置，然后移动超声波探头；超声波探伤仪实时采集待测薄板每点的厚度，结合扫检时间形成B扫图并显示。不仅检测成本低，不需要增加编码器等其他设备，检测效率高，单人即可完成操作，在屏幕上以图形显示，检测结果直观，对工件的变化趋势一目了然，有利于检测人员对工件质量的判定，并可有针对性地对可疑位置进行详细检测。

主权项

1.一种具有B扫功能的薄板超声检测方法，其特征在于，包括如下步骤：1）将超声波探头分别连接超声波探伤仪以及对准待测薄板；2）判断是选择A扫方式，还是选择B扫方式，选择A扫方式进入A扫方式界面，执行步骤3），选择B扫方式进入步骤6）；3）调整好超声波探头和待测薄板的位置，进行探伤；4）判断波门是否出现缺陷，是进入步骤5），否则返回步骤3）；5）保持峰值并定位，然后进入步骤9），具体是在如下系统中进行：包括有分别接收由超声波探头采集的待测薄板的缺陷信号（1）的第一级模拟开关（2）和高速比较器（6），其中，所述第一级模拟开关（2）的输出依次连接积分单元（3）、第二级模拟开关（4）、输出驱动单元（5）和信号输出端（9），所述的高速比较器（6）的信号输入端还连接峰值信号锁存单元（8）的信号输出端，所述峰值信号锁存单元（8）的信号输出端还连接信号输出端（9），还设置有可编程逻辑控制器（7），所述可编程逻辑控制器（7）的控制信号输出端分别连接第一级模拟开关（2）和第二级模拟开关（4）的信号输入端，所述可编程逻辑控制器（7）的信号输入、输出端还分别连接高速比较器（6）和峰值信号锁存单元（8）；缺陷信号（1）一路通过由可编程逻辑控制器（7）控制的第一级模拟开关（2）进入积分单元（3）进行积分，然后由可编程逻辑控制器（7）再控制第二级模拟开关（4），让积分后的信号通过输出驱动单元（5）泄放出去；另一路经过高速比较器（6）与峰值信号锁存单元（8）的信号进行比较，如果当前位置的缺陷信号波高于峰值信号锁存单元（8）的信号，则更新峰值信号锁存单元（8）里的峰值，同时也将峰值信号送至信号输出端（9）输出；6）超声波探伤仪开机进入B扫方式界面；7）调整好超声波探头和待测薄板的位置，然后移动超声波探头；8）超声波探伤仪实时采集待测薄板每点的厚度，结合扫检时间形成B扫图；9）显示器显示；10）结束。