[发明专利]一种制备立方相三氧化二铈单晶薄膜的方法有效

专利信息
申请号: 201610276819.X 申请日: 2016-04-29
公开(公告)号: CN105951178B 公开(公告)日: 2019-01-18
发明(设计)人: 冯卫;刘琴;谢东华;朱燮刚;陈秋云;谭世勇 申请(专利权)人: 中国工程物理研究院材料研究所
主分类号: C30B23/02 分类号: C30B23/02;C30B29/02;C30B29/16;C30B33/00;C30B33/02;C01B19/04
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地址: 621908 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明属于薄膜制备领域。公开一种制备立方相三氧化二铈单晶薄膜的方法。该三氧化二铈为(Mn0.5Fe0.5)2O3结构,空间群为206。该方法包括:提供一单晶钨(110)衬底,并对其表面进行清洁处理,以获得原子级平整的表面;提供铈(Ce)蒸发源,并在处理后的单晶钨(110)衬底表面沉积Ce,在处理后的单晶钨(110)衬底表面获得厚度为2~5纳米的Ce单晶薄膜;在室温下氧化Ce单晶薄膜,获得CeO2;在真空环境中对CeO2进行退火处理,退火温度900℃,时间为15~30分钟,获得(001)面的Ce2O3单晶薄膜。本发明获得了(001)面的立方相Ce2O3单晶薄膜,是对现有催化模型体系研究的补充。
搜索关键词: 一种 制备 立方 氧化 二铈单晶 薄膜 方法
【主权项】:
1.一种制备立方相三氧化二铈(Ce2O3)单晶薄膜的方法,其特征在于:所述方法包括:提供一单晶钨(110)衬底,并对其表面进行清洁处理,以获得原子级平整的表面;提供铈(Ce)蒸发源,并在处理后的单晶钨(110)衬底表面沉积Ce,在处理后的单晶钨(110)衬底表面获得厚度为2~5纳米(nm)的Ce单晶薄膜;在室温下氧化Ce单晶薄膜,在分压1×10‑3mbar~1大气压的高纯氧气氛下将Ce单晶薄膜氧化20小时以上,获得CeO2;在真空环镜中对CeO2进行退火处理,退火温度为900℃,时间为15~30分钟,获得晶面(001)面的Ce2O3单晶薄膜。
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