[发明专利]一种对薄板缺陷进行超声波无损检测的装置

摘要

一种对薄板缺陷进行超声波无损检测的装置，超声波信号检测模块有依次串接的：超声换能器激励接收电路、多路复用开关、前置增益放大器、可变增益放大器、8路可选检波滤波电路和高速高精度采样芯片，数字处理模块有：分别与中央处理器双向连接的现场可编程门阵列、键盘电路、显示驱动电路、内存芯片和闪存芯片，键盘电路的输入端依次连接PIC单片机和电池管理电路，显示驱动电路的输出端连接LCD显示屏，超声波信号检测模块中的超声换能器激励接收电路、多路复用开关、前置增益放大器、可变增益放大器和8路可选检波滤波电路的信号输入端分别连接现场可编程门阵列的信号输出端，高速高精度采样芯片的信号输出端连接现场可编程门阵列的信号输入端。

主权项

1.一种对薄板缺陷进行超声波无损检测的装置，其特征在于，是由超声波信号检测模块和数字处理模块构成，所述的超声波信号检测模块包括有依次串接的：连接采样探头（18）的超声换能器激励接收电路（2）、多路复用开关（3）、前置增益放大器（4）、可变增益放大器（5）、8路可选检波滤波电路（6）和高速高精度采样芯片（7），所述的数字处理模块包括中央处理器（1），分别与中央处理器（1）双向连接的现场可编程门阵列（8）、键盘电路（16）、显示驱动电路（11）、内存芯片（12）和闪存芯片（13），其中，所述的键盘电路（16）的输入端依次连接PIC单片机（9）和电池管理电路（10），所述显示驱动电路（11）的输出端连接LCD显示屏（13），所述超声波信号检测模块中的超声换能器激励接收电路（2）、多路复用开关（3）、前置增益放大器（4）、可变增益放大器（5）和8路可选检波滤波电路（6）的信号输入端分别连接所述现场可编程门阵列（8）的信号输出端，高速高精度采样芯片（7）的信号输出端连接所述现场可编程门阵列（8）的信号输入端；所述的超声换能器激励接收电路（2）包括有：第一驱动芯片（U316）和第二驱动芯片（U317），其中，所述第一驱动芯片（U316）和第二驱动芯片（U317）的电源输入端均连接10V电路电源，所述第一驱动芯片（U316）和第二驱动芯片（U317）的信号输入端分别连接现场可编程门阵列（8）的信号输出端，所述第一驱动芯片（U316）的驱动信号输出端通过第一电阻（R347）连接第一MOS管（Q301）的栅极，所述第二驱动芯片（U317）的驱动信号输出端通过第二电阻（R348）连接第二MOS管（Q300）的栅极，所述第一MOS管（Q301）的源极接地，所述第一MOS管（Q301）的漏极通过第五电阻（R303）连接高压电源输入端（HV），所述第二MOS管（Q300）的源极分别通过第一电容（C312）接地、通过第二电容（C313）接地和通过第三电容（C314）接地，所述第二MOS管（Q300）的漏极依次通过第三电阻（R311）、第四电容（C311）和第五电阻（R303）连接高压电源输入端（HV），还设置有第一～第四二极管（D300、D301、D302、D303），其中，第一二极管（D300）和第三二极管（D302）的负极共同通过第四电阻（R304）接地，以及依次通过第四电容（C311）和第五电阻（R303）连接高压电源输入端（HV），第一二极管（D300）和第三二极管（D302）的正极共同连接第二二极管（D301）和第四二极管（D303）的负极，第二二极管（D301）和第四二极管（D303）的正极连接采样探头（18）。