[发明专利]一种改善LED芯片测试针痕的方法有效
| 申请号： | 201610280258.0 | 申请日： | 2016-04-28 |
| 公开（公告）号： | CN105823974B | 公开（公告）日： | 2018-08-17 |
| 发明（设计）人： | 王彦丽;王友志;徐现刚 | 申请（专利权）人： | 山东浪潮华光光电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;B24B19/16;G01B5/08 |
| 代理公司： | 济南日新专利代理事务所 37224 | 代理人： | 王书刚 |
| 地址： | 261061 *** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 一种改善LED芯片测试针痕的方法，包括以下步骤：（1）制作磨具，该磨具包括磨头、监测窗和夹持柄，夹持柄固定连接在磨头上，磨头内设置有锥孔，磨头锥孔的内壁上附着有磨料，磨头上设置有监测窗，监测窗上设有刻度；（2）观察测试针的针尖是否完好，如果针尖完好，则用毛刷或吹气清除针尖上的碎屑，如果难以清除，则采用步骤（1）制作的磨具研磨针尖；（3）对研磨结束后的针尖进行针痕测试。该方法可以使测试针在不拆卸的前提下研磨针尖上附着的难以清除的碎屑，缩短了研磨时间，提高了研磨效率且保护了测试针，且可实时监控针尖的研磨情况，从而高效地保证了研磨质量，改善了测试针痕，保证了测试质量，提高了测试针寿命，降低了生产成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 改善 led 芯片 测试 方法 | ||
【主权项】：
1.一种改善LED芯片测试针痕的方法，其特征是，包括以下步骤：（1）制作磨具，该磨具包括磨头、监测窗和夹持柄，夹持柄固定连接在磨头上，磨头内设置有锥孔，磨头锥孔的内壁上附着有磨料，磨头上设置有监测窗，监测窗上面根据测试针R角测试规则标注刻度或者根据磨头的锥孔横截面直径标注刻度，以便实时监测研磨的针尖直径是否符合要求；（2）在LED芯片测试过程中如果出现针痕异常情况，观察测试针的针尖是否完好，如果针尖完好，则用毛刷或吹气清除针尖上的碎屑，如果难以清除，则采用步骤（1）制作的磨具研磨针尖；（3）对研磨结束后的针尖进行针痕测试，查看针痕是否符合要求。
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