[发明专利]维氏硬度计及硬度测量修正方法有效
申请号: | 201610281920.4 | 申请日: | 2016-04-28 |
公开(公告)号: | CN105954132B | 公开(公告)日: | 2019-01-29 |
发明(设计)人: | 赵洪涛 | 申请(专利权)人: | 广州众诚电科检测技术有限公司 |
主分类号: | G01N3/42 | 分类号: | G01N3/42;G01N3/62 |
代理公司: | 广州越华专利代理事务所(普通合伙) 44523 | 代理人: | 陈岑 |
地址: | 510000 广东省广*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明提供了一种维氏硬度计,所述维氏硬度计包括机架,所述机架包括上下间隔设置的上架体和下架体、连接上架体和下架体的连接体及储物间室,所述储物间室内放置有至少两块硬度不同的标准硬度块,所述下架体上设置有向上突伸的升降台,所述升降台的顶端设置有用以搁置待测物品的搁物台,所述上架体上设置有朝向所述搁物台突伸的压头、用以驱动所述压头的驱动装置,本发明还提供一种硬度测量修正方法,使用上述维氏硬度计测量时,先通过检测标准硬度块获得修正系数,再检测待测物品获得检测硬度,通过修正系数对检测硬度值进行修正,获得实际硬度值。本发明的维氏硬度计使用方便,本发明的硬度检测修正方法,修正过程简单,修正结果精确。 | ||
搜索关键词: | 硬度计 硬度 测量 修正 方法 | ||
【主权项】:
1.一种硬度测量修正方法,其特征在于:所述硬度测量修正方法包括如下步骤:使用维氏硬度计,将第一标准硬度块放置在搁物台上,控制升降台升高到预设位置;所述维氏硬度计包括机架,所述机架包括上下间隔设置的上架体和下架体、连接上架体和下架体的连接体及储物间室,所述储物间室内放置有至少两块硬度不同的标准硬度块,所述下架体上设置有向上突伸的升降台,所述升降台的顶端设置有用以搁置待测物品的搁物台,所述上架体上设置有朝向所述搁物台突伸的压头、用以驱动所述压头的驱动装置,所述维氏硬度计在测量时,先通过检测标准硬度块获得修正系数,再检测待测物品获得检测硬度,通过修正系数对检测硬度值进行修正,获得实际硬度值;所述标准硬度块包括硬度为hv2500的第一标准硬度块和硬度为hv600的第二标准硬度块;所述上架体还设置有内置CCD图像采集系统的显微镜物镜;所述机架内部设置有存储模块和处理模块;控制驱动装置驱动所述压头以预定的加载力压在所述第一标准硬度块上,持续30秒以在第一标准硬度块上压出图像,控制驱动装置驱动所述压头远离第一标准硬度块;使显微镜物镜对准第一标准硬度块上压出的图像,通过CCD图像采集系统采集图像,并储存到存储模块,处理模块测量图像的对角线长度,记为Lt1;控制升降台下降到原位置,并取走第一标准硬度块;将第二标准硬度块放置在搁物台上,控制升降台升高到预设位置;控制驱动装置驱动所述压头以预定的加载力压在所述第二标准硬度块上,持续30秒以在第二标准硬度块上压出图像,控制驱动装置驱动所述压头远离第二标准硬度块;使显微镜物镜对准第二标准硬度块上压出的图像,通过CCD图像采集系统采集图像,并储存到存储模块,处理模块测量图像的对角线长度,记为Lt2;控制升降台下降到原位置,并取走第二标准硬度块;通过处理模块处理获取的Lt1和Lt2获得修正放大系数A和修正偏移量B;利用公式A=(Lt1/Ld1‑Lt2/Ld2)/(Lt1‑Lt2)和B=Lt1/Ld1‑(Lt1/Ld1‑Lt2/Ld2)*Ld1/(Ld1‑Ld2)求出修正放大系数A和修正偏移量B,其中,Ld1为硬度hv2500对应维氏硬度值表中对角线长度,Ld2为硬度hv600对应维氏硬度值表中对角线长度。
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