[发明专利]结构表面变形监测系统及方法有效

专利信息
申请号: 201610283409.8 申请日: 2016-05-04
公开(公告)号: CN105783798B 公开(公告)日: 2019-05-31
发明(设计)人: 刘天云;孟丹;黄斌 申请(专利权)人: 清华大学
主分类号: G01B15/06 分类号: G01B15/06
代理公司: 深圳市鼎言知识产权代理有限公司 44311 代理人: 王赛
地址: 100084 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供一种结构表面变形监测系统,用于监测待测结构的表面三维变形,包括:至少三个微波探测器、数据采集传输单元、远程控制处理系统。所述至少三个微波探测器分别布置在不同高程位置且与所述待测结构互相通视。本发明同时还提供一种结构表面变形监测方法。利用本发明提供的结构表面变形监测系统及方法可以同时测量待测结构三个方向的静态变形及动态振动特性,且自动化程度高、能够连续实时测量,适合各种复杂结构表面变形监测的需求。
搜索关键词: 结构 表面 变形 监测 系统 方法
【主权项】:
1.一种结构表面变形监测系统,用于监测待测结构的表面三维变形,其特征在于,包括:三个微波探测器,用于发射和接收微波,获取所述待测结构表面多个测点三个视线方向的回波信号;三个数据采集传输单元,与所述三个微波探测器一一对应,接收所对应的微波探测器传输的回波信号,对该回波信号进行模数转换并加入时间信息,形成每一测点的包含有时间信息的坐标数据;远程控制处理系统,控制所述三个微波探测器的探测工作,接收所述三个数据采集传输单元传输的包含有时间信息的坐标数据,并根据所述包含有时间信息的坐标数据计算所述待测结构的静态变形特性和\或动态振动特性,其中用于计算动态振动特性的动态采样频率的范围为10‑100Hz。
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