[发明专利]光检测装置以及光检测系统有效
| 申请号： | 201610286166.3 | 申请日： | 2016-05-03 |
| 公开（公告）号： | CN106248224B | 公开（公告）日： | 2020-04-14 |
| 发明（设计）人： | 西胁青儿 | 申请（专利权）人： | 松下知识产权经营株式会社 |
| 主分类号： | G01J9/02 | 分类号： | G01J9/02 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 李国华 |
| 地址： | 日本国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本公开提供一种光检测装置以及光检测系统，光检测装置具备：光检测器，其具有主面，包含沿着所述主面而配置的至少1个第1检测器以及至少1个第2检测器；光耦合层，其配置在所述光检测器上，包含第1低折射率层、配置在所述第1低折射率层上且包含第1光栅的第1高折射率层、以及配置在所述第1高折射率层上的第2低折射率层，所述第1高折射率层与所述第1低折射率层以及所述第2低折射率层相比折射率高；和遮光膜，其配置在所述光耦合层上，包含至少1个透光区域、以及与所述至少1个透光区域相邻的至少1个遮光区域，所述至少1个透光区域与所述至少1个第1检测器对向，所述至少1个遮光区域与所述至少1个第2检测器对向。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 装置 以及 系统 | ||
【主权项】：
一种光检测装置，具备：光检测器，其具有主面，包含沿着所述主面而配置的至少1个第1检测器以及至少1个第2检测器；光耦合层，其配置在所述光检测器上，包含第1低折射率层、配置在所述第1低折射率层上且包含第1光栅的第1高折射率层、以及配置在所述第1高折射率层上的第2低折射率层，所述第1高折射率层与所述第1低折射率层以及所述第2低折射率层相比折射率高；和遮光膜，其配置在所述光耦合层上，包含至少1个透光区域、以及与所述至少1个透光区域相邻的至少1个遮光区域，所述至少1个透光区域与所述至少1个第1检测器对向，所述至少1个遮光区域与所述至少1个第2检测器对向。
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