[发明专利]测试分选机用插接件

摘要

本发明涉及一种测试分选机用插接件。根据本发明的第一形态，形成于插接件的支撑部件的开放孔中特殊开放孔的半径小于普通开放孔的半径。而且，根据本发明的第二形态，形成于插接件的防脱台的引导槽中特殊引导槽的曲率半径小于普通引导槽的曲率半径。根据本发明，既可以精确设定半导体元件的位置，又能够在引出半导体元件时最小化对半导体元件的插接维持力，从而可以提高产品的可靠性及引出操作的稳定性。

主权项

1.一种测试分选机用插接件，作为一种设置于测试托盘的插接件，包括：主体，形成有插孔，该插孔能够使半导体元件插入；支撑部件，用于在所述插孔的一侧支撑被插入到所述插孔中的半导体元件；固定部件，用于将所述支撑部件固定于所述主体；以及栓锁装置，用于将半导体元件保持在所述插孔内，其特征在于，所述支撑部件形成有用于使半导体元件的端子向测试机侧开放的多个普通开放孔和至少2个特殊开放孔，以使被所述支撑部件所支撑的半导体元件的端子电连接于测试机侧，所述特殊开放孔为如下的对正孔：直径大于或等于半导体元件的端子的直径却小于所述普通开放孔的直径，该对正孔的直径形成为能够在所述支撑部件被竖直立起时使对应于所述普通开放孔的半导体元件的端子在所述普通开放孔中以无过盈插入方式保持悬置状态，当对应于所述特殊开放孔的半导体元件的端子在插入到所述特殊开放孔的状态下因所述测试托盘被竖直立起而使半导体元件被竖立时，半导体元件的下端与构成所述主体的安置平面的下端台之间相隔预定间距，以防止半导体元件的下端过盈插入到构成所述主体的安置平面的下端台。