[发明专利]一种恒温全内反射微流控芯片检测一体机有效
申请号: | 201610296060.1 | 申请日: | 2016-05-08 |
公开(公告)号: | CN105784663B | 公开(公告)日: | 2018-06-12 |
发明(设计)人: | 廖晓玲;徐紫宸;李波;肖文谦 | 申请(专利权)人: | 重庆科技学院 |
主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64;G01N21/01 |
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地址: | 401331 重*** | 国省代码: | 重庆;50 |
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摘要: | 本发明公开了一种恒温全内反射微流控芯片检测一体机,由主机箱体和处理显示器组成,其特征在于:主机箱体内部分为下层箱室和上层箱室两层,下层箱室安装有倒置荧光显微镜,在上层箱室内安装有全内反射光源及接收器。上层箱室的里侧箱体壁内有加热室。处理显示器与主机箱体内的倒置荧光显微镜和全内反射光源及接收器线路相连。本发明的优点是既能够用全内反射检测,又能够用倒置荧光显微镜检测,实现一机多用,满足一机联测不同因子的要求。并且实现了检测区域的温度和湿度均匀与恒定。 | ||
搜索关键词: | 全内反射 箱室 倒置荧光显微镜 主机箱体 微流控芯片检测 处理显示器 上层 一体机 下层 光源 恒定 接收器线路 接收器 检测区域 室内安装 一机多用 侧箱体 加热室 检测 两层 | ||
【主权项】:
一种恒温全内反射微流控芯片检测一体机,由主机箱体(1)、和处理显示器(18)组成,其特征在于:主机箱体(1)竖直朝前的一面有开口,箱体里面通过上下箱室隔板(5)将箱体内部分为下层箱室(2)和上层箱室(13)两层,并且都各自在箱体开口处安装有独立的下层透明门(17)和上层透明门(14);下层箱室(2)安装有倒置荧光显微镜(3),倒置荧光显微镜(3)的镜头上方对着观察窗(4);观察窗(4)上方的上下箱室隔板(5)的上面,即在上层箱室(13)内的上下箱室隔板(5)一侧安装有样品台(6);样品台(6)上固定放置检测芯片(15);在样品台(6)正上方有全内反射光源及接收器(10);在上层箱室(13)的里侧箱体壁上安装有竖轨(12),在竖轨(12)上还水平安装有横轨(9),横轨(9)与竖轨(12)十字交叉相互垂直;全内反射光源及接收器(10)通过竖轨(12)或横轨(9)固定;在上层箱室(13)的里侧箱体壁上还加工安装有连体的加湿器(7)和风扇(8);上层箱室(13)的里侧箱体壁有两层保温隔板(19),在两层保温隔板(19)之间是加热室(20),加热室(20)内安装有控制温度的电加热装置;在主机箱体(1)顶部加工安装有空气净化装置(11)与上层箱室(13)相通;处理显示器(18)与主机箱体(1)内的倒置荧光显微镜(3)和全内反射光源及接收器(10)线路相连。
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