[发明专利]一种孔内径测量方法在审
| 申请号： | 201610296524.9 | 申请日： | 2016-05-06 |
| 公开（公告）号： | CN105806184A | 公开（公告）日： | 2016-07-27 |
| 发明（设计）人： | 陶诚;匡中华;黎成 | 申请（专利权）人： | 深圳市铭利达精密机械有限公司 |
| 主分类号： | G01B5/12 | 分类号： | G01B5/12 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 李海建 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区南头*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种孔内径测量方法，步骤A：调整三次元测量仪的测头，使测头对准待测孔；步骤B：调整探头到待测孔的第一预设深度处，将测头接触待测孔的内壁，通过三次元测量仪读出待测孔在第一预设深度孔的第一直径值；步骤C：调整探头到待测孔的第二预设的深度处，将测头接触待测孔的内壁，通过三次元测量仪读出待测孔在第二预设深度处的第二直径值；步骤D：比较第一直径值与标准直径值的差值及第二直径值与标准直径值的差值，判断第一直径值和第二直径值是否在预设的误差范围内。本发明公开的孔内径测量方法，通过三次元测量仪的测头与孔壁接触取点测量，方便了对孔内径取点，避免了测量分歧，且能够测量出产品的内径孔是否合格。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 内径 测量方法 | ||
【主权项】：
一种孔内径测量方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤A：调整三次元测量仪的测头，使所述测头对准待测孔；步骤B：调整探头到所述待测孔的第一预设深度处，将所述测头接触所述待测孔的内壁，通过所述三次元测量仪读出所述待测孔在所述第一预设深度孔的第一直径值；步骤C：调整所述探头到所述待测孔的第二预设的深度处，将所述测头接触所述待测孔的内壁，通过所述三次元测量仪读出所述待测孔在第二预设深度处的第二直径值；步骤D：分别比较所述第一直径值和所述第二直径值与标准直径值，判断所述第一直径值和所述第二直径值是否在预设的误差范围内。
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