[发明专利]高性能天线远场测量暗室及设计方法有效
申请号: | 201610298980.7 | 申请日: | 2016-05-06 |
公开(公告)号: | CN105866560B | 公开(公告)日: | 2019-04-16 |
发明(设计)人: | 刘本东;张宇桥;毛莹;李晓峰;周春杰 | 申请(专利权)人: | 刘本东 |
主分类号: | G01R29/10 | 分类号: | G01R29/10 |
代理公司: | 南京知识律师事务所 32207 | 代理人: | 卢亚丽 |
地址: | 210000 江苏省南*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明属于天线暗室测量领域,具体涉及一种高性能天线远场测量暗室及设计方法。所述的高性能天线远场测量暗室,是在该暗室中在菲涅尔区的吸波材料呈波浪型渐变布设,使源天线发射的电波在菲涅尔区形成漫散射,同时,让进入静区的不同路径散射波波程差为λ/2,使不同路径的散射波矢量对消。采用本发明的测量暗室,可有效提高静区性能,通过矢量对消可提升暗室静区性能15dB左右。 | ||
搜索关键词: | 性能 天线 测量 暗室 设计 方法 | ||
【主权项】:
1.一种高性能天线远场测量暗室,其特征在于,该暗室中在菲涅尔区的吸波材料呈波浪型渐变布设,使源天线发射的电波在菲涅尔区形成漫散射,同时,让进入静区的不同路径散射波波程差为λ/2,使不同路径的散射波矢量对消;菲涅尔区的反射面为椭圆反射面,所述椭圆长轴为2aN,短轴为2bN:2aN=R×F1×(1+F22‑2×F3)0.52bN=R×((F12‑1)×(1+F22‑2×F3))0.5Ψ=tg‑1(HA+HT)/RF1=(N×λ)/(2×R)+SecΨF2=(HT2‑HA2)/[(F12‑1)×R2]F3=(HT2+HA2)/[(F12‑1)×R2]式中R—天线收发间距,单位mΨ—反射线同反射面间的夹角,单位°λ—电波波长,单位mHA—发射天线至反射面距离,单位mHT—接收天线至反射面距离,单位mN—菲涅尔带数目,取自然数;所述菲涅尔区的长轴为2aN;①号电波、②号电波和③号电波在所述菲涅尔区的反射面依次反射,所述菲涅尔区波浪的高度H的取值使①号电波路径与③号电波路径的波程相同,①号电波路径与②号电波路径的波程差为λ/2,③号电波路径与②号电波路径的波程差为λ/2。
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