[发明专利]基于光耦探测器X射线三维显微镜系统参数标定方法在审
| 申请号： | 201610300241.7 | 申请日： | 2016-05-07 |
| 公开（公告）号： | CN106403811A | 公开（公告）日： | 2017-02-15 |
| 发明（设计）人： | 邹晶 | 申请（专利权）人： | 天津大学 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00 |
| 代理公司： | 天津市北洋有限责任专利代理事务所12201 | 代理人： | 刘国威 |
| 地址： | 300072*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 基于光耦探测器X射线三维显微镜系统参数标定方法。本发明涉及X射线CT技术领域，为提供高分辨率显微CT系统,本发明采取的技术方案是，基于光耦探测器X射线三维显微镜系统参数的标定方法，首先利用标准栅格板进行高分辨率显微CT的光学放大倍数标定，并将探测器像素信息转化到闪烁片位置的像素信息，然后获取特定模体的二维透视图像，通过计算模体透视图像中的相关参数，标定获得系统的相关参数。本发明主要应用于X射线CT设备的设计制造。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 探测器 射线 三维 显微镜 系统 参数 标定 方法 | ||
【主权项】：
一种基于光耦探测器X射线三维显微镜系统参数的标定方法，其特征是，首先利用标准栅格板进行高分辨率显微CT的光学放大倍数标定，并将探测器像素信息转化到闪烁片位置的像素信息，然后获取特定模体的二维透视图像，通过计算模体透视图像中的相关参数，标定获得系统的相关参数。
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