[发明专利]检测电子元件表面缺陷的装置

摘要

本发明检测电子元件表面缺陷的装置，属于表面质量检查设备领域。目的是提供一种能准确反应电子元件表面缺陷的尺寸的检测电子元件表面缺陷的装置。包括支座，安装于支座的光源、放大镜和摄像镜头，光源、放大镜和摄像镜头由下至上依次布置；在光源下方设有电子元件检测台，电子元件检测台包括与支座可拆卸连接的反射本体，在反射本体上设有垂直贯穿反射本体的方形通孔，方形通孔的四个内壁上均安装有平面镜，平面镜的镜面由下至上向外延伸；在通孔正下方设有安装于支座的检测平台，检测平台的四周标有刻度，刻度在平面镜的反射范围内。该检测电子元件表面缺陷的装置可明确表面缺陷的尺寸大小，根据尺寸大小确定修复方案，避免了修复的盲目性。

主权项

检测电子元件表面缺陷的装置，其特征在于：包括支座(1)，可拆卸安装于支座(1)的光源(7)、放大镜(2)和摄像镜头(8)，所述光源(7)、放大镜(2)和摄像镜头(8)由下至上依次布置；在光源(7)下方设有电子元件检测台，所述电子元件检测台包括与支座(1)可拆卸连接的反射本体(3)，在反射本体(3)上设有垂直贯穿反射本体(3)的方形通孔(4)，所述方形通孔(4)的四个内壁上均安装有平面镜(5)，所述平面镜(5)的镜面由下至上向外延伸；在通孔(4)正下方设有安装于支座(1)的检测平台(6)，所述检测平台(6)的四周标有刻度(61)，所述刻度(61)在平面镜(5)的反射范围内。