[发明专利]一种基于频谱分析的摄像头模组倾斜探测方法

摘要

本发明涉及一种基于频谱分析的摄像头模组倾斜探测的方法，其包括如下步骤：产生一束平行相干光并垂直射向摄像头模组中的物镜；获取传感器芯片反射而产生的衍射频谱图像；计算衍射频谱图像的几何中心位置，以及衍射频谱图像的零级频谱的中心位置；由衍射频谱图像的零级频谱的中心位置与衍射频谱图像的几何中心位置是否重合来判断摄像头模组是否发生倾斜。本发明可提高摄像头模组倾斜探测的精确度。

主权项

1.一种基于频谱分析的摄像头模组倾斜探测方法，其特征在于该探测方法包括如下步骤：S1、产生一束平行相干光并垂直射向摄像头模组中的物镜，所述平行相干光的中心轴线与物镜的光轴为共轴，平行相干光的中心轴线垂直于物镜的主平面；S2、获取传感器芯片反射而产生的衍射频谱图像，该衍射频谱图像由平行相干光经摄像头模组的物镜会聚后，到达摄像头模组的传感器芯片，传感器芯片在接收到相干光束后在其表面产生反射，反射光束再次经过摄像头模组的物镜并在距离物镜一倍焦距处产生，所述衍射频谱图像为传感器芯片的衍射频谱图像；S3、计算衍射频谱图像的几何中心位置，以及衍射频谱图像的零级频谱的中心位置；S4、判断衍射频谱图像的零级频谱的中心位置与衍射频谱图像的几何中心位置是否重合，如果重合，则确定摄像头模组的物镜的主平面与传感器芯片为平行，如果不重合，则确定摄像头模组的物镜的主平面与传感器芯片为相对倾斜。