[发明专利]一种分层粗糙表面的分析方法有效
申请号: | 201610304569.6 | 申请日: | 2016-05-10 |
公开(公告)号: | CN106021660B | 公开(公告)日: | 2018-12-28 |
发明(设计)人: | 黄伟峰;胡松涛;刘向锋;刘莹;王玉明 | 申请(专利权)人: | 清华大学 |
主分类号: | G06F17/50 | 分类号: | G06F17/50 |
代理公司: | 西安智大知识产权代理事务所 61215 | 代理人: | 段俊涛 |
地址: | 100084 北京市海淀区1*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种分层粗糙表面的分析方法,可从整体粗糙表面中分离出若干分量表面,进而得到分量的表面参数;通过表面测量系统测量实际粗糙表面,提取2D或3D粗糙表面形貌数据,输入表面分析所需的控制参数,利用粗糙表面形貌数据计算粗糙表面的整体表面参数和表面函数;基于整体表面参数和表面函数,采用分层思想,将整体粗糙表面分离成若干分量表面,进而得到任一分量表面的表面参数和表面函数;本发明适合于分层粗糙表面的分析,特别适用于分析多工艺表面(例如汽车发动机内采用平顶珩磨方式加工的内缸表面)和磨损表面。 | ||
搜索关键词: | 一种 分层 粗糙 表面 分析 方法 | ||
【主权项】:
1.一种分层粗糙表面的分析方法,包括下述步骤:1)测量实际粗糙表面,提取2D或3D粗糙表面形貌数据z(x)或z(x,y);2)输入表面分析所需的控制参数,包括自相关函数截止系数和概率材料比曲线,概率材料比曲线即概率支承率曲线的有效区间内的曲线部分;3)利用粗糙表面形貌数据计算粗糙表面的整体表面参数和表面函数;4)基于整体表面参数和表面函数,采用分层思想,将整体粗糙表面分离成若干分量表面,进而得到任一分量表面的表面参数和表面函数;其特征在于,所述步骤3)中,所述计算粗糙表面的整体表面参数和表面函数包括以下步骤:1)计算粗糙表面基本的整体表面参数:尺寸、数据点数、粗糙度即均方根σ、斜度系数Sk和峰度系数Ku;2)计算粗糙表面自相关函数ACF,并依据提前输入的自相关函数截止系数,计算粗糙表面自相关长度λx或(λx,λy),若为2D粗糙表面,只在x方向进行,若为3D粗糙表面,在x和y方向同时进行;3)计算粗糙表面的概率密度函数、累积分布函数和概率材料比曲线。
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