[发明专利]磁场传感器中铁磁性结构的损坏检测和智能复位有效
申请号: | 201610308169.2 | 申请日: | 2016-05-11 |
公开(公告)号: | CN106154185B | 公开(公告)日: | 2020-08-14 |
发明(设计)人: | 佩奇·M·霍尔姆;柳连俊 | 申请(专利权)人: | 恩智浦美国有限公司 |
主分类号: | G01R33/02 | 分类号: | G01R33/02 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 倪斌 |
地址: | 美国德*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 一种传感器封装包括磁场传感器以及损坏检测和复位子系统。磁场传感器具有磁性感测元件和由基线磁性状态表征的铁磁性结构。子系统包括检测器元件、处理器和接近铁磁性结构定位的载流结构。由子系统实行的方法需要在检测器元件处检测铁磁性结构的变更的磁性状态,其中变更的磁性状态与基线磁性状态不同。方法另外需要在处理器处响应于变更的磁性状态确定何时需要复位动作,并且将复位磁场施加到铁磁性结构,以使铁磁性结构从变更的磁性状态复位为基线磁性状态。 | ||
搜索关键词: | 磁场 传感器 铁磁性 结构 损坏 检测 智能 复位 | ||
【主权项】:
在具有铁磁性结构的传感器封装中的一种方法,所述铁磁性结构由基线磁性状态表征,该方法的特征在于,包括:检测所述铁磁性结构的变更的磁性状态,所述变更的磁性状态与所述基线磁性状态不同;在所述传感器封装内的处理器处响应于所述变更的磁性状态确定何时需要复位动作;以及经由接近所述铁磁性结构定位的载流结构将复位磁场施加到所述铁磁性结构,以将所述铁磁性结构复位为所述基线磁性状态。
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