[发明专利]一种电子元件多功能柔性测试机在审
| 申请号： | 201610311034.1 | 申请日： | 2016-05-12 |
| 公开（公告）号： | CN107367660A | 公开（公告）日： | 2017-11-21 |
| 发明（设计）人： | 肖辉;吴海东 | 申请（专利权）人： | 昆山市力格自动化设备有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/02 | 分类号： | G01R31/02;G01R31/12;G01M3/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 215337 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种电子元件多功能柔性测试机，包括一导通测试机构，用于测试电子元件插针的导通性；一高压测试机构，置于导通测试机构的下一工序段位置，用于测试装有插针后的电子元件在高压下的稳定性；一气漏测试机构置于高压测试机构的下一工序段位置，用于测试装有插针后的电子元件的气漏性；一标识机构置于气漏测试机构的下一工序段位置，用于标识所测试的装有插针后的电子元件各种性能是否符合要求；一夹取机构，用于按工序依次从上一测试工序段夹取电子元件到下一测试工序段。本发明实现了电子元件检测的自动化、一体化，操作简单，省时省力，精确度高。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电子元件 多功能 柔性 测试 | ||
【主权项】：
一种电子元件多功能柔性测试机，其特征在于，包括一导通测试机构，用于测试电子元件插针的导通性；一高压测试机构，置于所述导通测试机构的下一工序段位置，用于测试装有插针后的电子元件在高压下的稳定性；一气漏测试机构，置于所述高压测试机构的下一工序段位置，用于测试装有插针后的电子元件的气漏性；一标识机构，置于所述气漏测试机构的下一工序段位置，用于标识所测试的装有插针后的电子元件各种性能是否符合要求；一夹取机构，用于按工序依次从上一测试工序段夹取电子元件到下一测试工序段。
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