[发明专利]一种原位测量粮仓单元装置

摘要

本发明公开了一种原位测量粮仓单元装置，包括粮仓单元装置，用于放置谷物；温度电缆，其均匀布设在粮仓单元装置内，用于探测粮仓单元装置温度；传感器组，其上温度传感器、湿度传感器和水分传感器通过缆线均匀布设在模拟舱内，用于探测谷物的温度、湿度和水分；以及数据采集单元，其连接温度电缆和传感器组，用于接收并传输温度电缆和传感器组的数据；控制单元，其连接数据采集单元，用于接收数据采集单元传输的数据并进行数据分析处理；其中，控制单元通过计算结露影响因子p来判断仓储状态并进行操作。本发明的粮仓单元装置采用多参数原位测量方法为试验和模型探索提供准确数据源，能够准确判断谷物是否方法结露并进行报警。

主权项

一种利用原位测量粮仓单元装置判断仓储状态的方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1、传感器组探测粮仓单元装置内的谷物的温度、湿度和水分信号，并将信号通过数据采集单元传输至控制单元；步骤2、控制单元根据信号计算结露影响因子p：p＝p1×△T+p2×△H+p3×△C其中，p1为温控系数；p2为湿控系数；p3为水控系数；△T为累积谷物温差；△H为累积谷物湿度差；△C为累积谷物水分差；步骤3：当0<p≤0.25，谷物仓储状态优；当0.25<p≤0.45，谷物仓储状态良，加大通风量；当0.45<p≤0.75，谷物仓储状态中，加大通风量，发出预警；当0.75<p≤0.85，谷物仓储状态差，控制单元判断是否结露，发出相应的预警或结露警报；当0.85<p≤1，谷物仓储状态极差，控制单元判断是否结露，发出相应的预警或结露警报；所述步骤2中累积谷物温差△T计算公式如下：ΔT=Σi=2,j=2,k=2i=a-1,j=b-1,k=n-1|(Tijk-T(i+1)jk)·(Tijk-T(i-1)jk)·(Tijk-Ti(j+1)k)·(Tijk-Ti(j-1)k)(Tijk-Tij(k+1))(Tijk-Tij(k-1))6Tijk|]]>其中，i为温度传感器的层数，a为温度传感器的最大层数；j为温度传感器的行数，b为温度传感器的最大行数；k为温度传感器的列数，n为温度传感器的最大列数；Tijk为第i层j行k列的温度传感器探测的温度值；所述累积谷物湿度差△H计算公式如下：ΔH=Σi=2,j=2,k=2i=a-1,j=b-1,k=n-1|(Hijk-H(i+1)jk)·(Hijk-H(i-1)jk)·(Hijk-Hi(j+1)k)·(Hijk-Hi(j-1)k)(Hijk-Hij(k+1))(Hijk-Hij(k-1))6Hijk|]]>其中，i为湿度传感器的层数，a为湿度传感器的最大层数；j为湿度传感器的行数，b为湿度传感器的最大行数；k为湿度传感器的列数，n为湿度传感器的最大列数；Hijk为第i层j行k列的湿度传感器探测的相对湿度；所述累积谷物水分差△C计算公式如下：ΔC=Σi=2,j=2,k=2i=a-1,j=b-1,k=n-1|(Cijk-C(i+1)jk)·(Cijk-C(i-1)jk)·(Cijk-Ci(j+1)k)·(Cijk-Ci(j-1)k)(Cijk-Cij(k+1))(Cijk-Cij(k-1))6Cijk|]]>其中，i为谷物水分传感器的层数，a为谷物水分传感器的最大层数；j为谷物水分传感器的行数，b为谷物水分传感器的最大行数；k为谷物水分传感器的列数，n为谷物水分传感器的最大列数；Cijk为第i层j行k列的谷物水分传感器探测的谷物水分值。