[发明专利]一种多层结构的SAW器件及其制备方法有效
申请号: | 201610311205.0 | 申请日: | 2016-05-12 |
公开(公告)号: | CN105978520B | 公开(公告)日: | 2019-04-05 |
发明(设计)人: | 帅垚;李杰;吴传贵;罗文博;陈留根;蒲诗睿;潘忻强;白晓圆 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
主分类号: | H03H3/08 | 分类号: | H03H3/08;H03H9/02 |
代理公司: | 电子科技大学专利中心 51203 | 代理人: | 张杨 |
地址: | 611731 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明涉及声表波器件制造领域,特别涉及一种多层结构的SAW器件及其制备方法。该多层结构的SAW器件,从上至下依次包括叉指换能器、压电单晶薄片和Diamond薄膜。压电单晶薄片厚度1‑10nm粗糙度1‑10nm,其上制备有叉指换能器。叉指换能器厚度1‑10nm。Diamond薄膜厚度1‑10μm,粗糙度5‑10nm,制备于硅基上。本发明通过降低压电晶体的厚度,使其只是激发和接收声表面波,而声表面波的传播在金刚石内,在相同的叉指换能器指宽的情况下,能够显著提高器件的工作频率。可满足高频、高机电耦合系数、小体积的声表面波的器件应用领域的需求。 | ||
搜索关键词: | 一种 多层 结构 saw 器件 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
1.一种多层结构的SAW器件的制备方法,包括以下步骤:步骤1、用CVD法在硅基上生长Diamond薄膜,然后经过CMP抛光,制得Diamond薄膜厚度为1‑10μm,粗糙度为5‑10nm;步骤2、将压电单晶基片依次经过与Si基片键合、减薄、CMP抛光、Si基片剥离和清洗,获得厚度1‑10μm粗糙度1‑10nm的压电单晶薄片;步骤3、利用光刻技术,在步骤2制得的压电单晶薄片上制作叉指换能器图形;步骤4、通过溅射法,在步骤3制得的压电单晶薄片上制作一层厚度1‑10nm金属薄膜;然后经过去胶,形成叉指换能器;步骤5、利用键合技术将步骤4制得的压电单晶薄片与步骤1制备的Diamond薄膜键合,从而制得叉指换能器/压电单晶/Diamond多层结构的SAW器件。
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