[发明专利]高温衬底基座模块及其组件有效
申请号: | 201610312956.4 | 申请日: | 2016-05-12 |
公开(公告)号: | CN106148916B | 公开(公告)日: | 2020-09-25 |
发明(设计)人: | 特洛伊·艾伦·戈姆;蒂莫西·托马斯 | 申请(专利权)人: | 朗姆研究公司 |
主分类号: | C23C16/458 | 分类号: | C23C16/458 |
代理公司: | 上海胜康律师事务所 31263 | 代理人: | 樊英如;包孟如 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明涉及高温衬底基座模块及其组件。半导体衬底处理装置包括:半导体衬底能在其中被处理的真空室;工艺气体通过其从工艺气体源供给到真空室的处理区域的喷头模块。衬底基座模块包括:台板;杆,其具有限定杆的圆柱形内部区域的侧壁、下表面和支撑台板的上端;和适配器,其具有限定适配器的圆柱形内部区域的侧壁和支撑杆的上表面。杆的下表面包括与位于杆的侧壁中相应的气体通道以及位于适配器的上表面中的环形气体通道中的气体出口流体连通的气体入口。适配器的上表面包括位于气体出口的径向内侧的内槽和位于内槽的径向外侧的外槽。内槽和外槽在其中具有相应的O形环以便在处理期间形成真空密封。台板包括至少一个台板气体通道。 | ||
搜索关键词: | 高温 衬底 基座 模块 及其 组件 | ||
【主权项】:
一种用于处理半导体衬底的半导体衬底处理装置,其包括在杆的下表面和支撑所述杆的适配器的上表面之间具有最小安装区的高温衬底基座模块,所述半导体衬底处理装置包括:真空室,其包括半导体衬底能在其中被处理的处理区域;喷头模块,工艺气体通过该喷头模块从工艺气体源供给到所述真空室的所述处理区域;以及所述衬底基座模块,其包括:台板,其具有构造成在处理期间支承半导体衬底在其上的上表面;所述杆,其由陶瓷材料制成,所述杆具有限定所述杆的圆柱形内部区域的侧壁、下表面以及支撑所述台板的上端;和适配器,其具有限定所述适配器的圆柱形内部区域的侧壁和连接到所述杆的下表面的上表面,所述杆的下表面包括至少一个气体入口,所述至少一个气体入口与位于所述杆的侧壁中的相应的气体通道流体连通,所述至少一个气体入口与位于所述适配器的上表面的环形气体通道中的至少一个气体出口流体连通,所述适配器的上表面包括位于所述至少一个气体出口径向内侧的内槽和位于所述内槽的径向外侧的外槽,所述内槽具有在其内的内O形环,以便在处理期间在所述适配器的圆柱形内部区域和所述至少一个气体出口之间形成内真空密封,并且所述外槽在其内具有外O形环,以便在处理期间在围绕所述适配器的侧壁的区域和所述至少一个气体出口之间形成外真空密封;其中,所述台板包括与所述杆的侧壁中的相应的气体通道流体连通的至少一个台板气体通道,当在处理期间半导体衬底支承在所述台板的上表面上时,背部气体能通过所述杆的侧壁中的相应的气体通道被供给至所述半导体衬底下方的区域。
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C23 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面化学处理;金属材料的扩散处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆;金属材料腐蚀或积垢的一般抑制
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
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C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的