[发明专利]晶体管直流放大倍数的测试装置及方法在审
| 申请号： | 201610313320.1 | 申请日： | 2016-05-11 |
| 公开（公告）号： | CN106019109A | 公开（公告）日： | 2016-10-12 |
| 发明（设计）人： | 顾汉玉 | 申请（专利权）人： | 华润赛美科微电子（深圳）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 邓云鹏 |
| 地址： | 518040 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种晶体管直流放大倍数的测试装置，包括自动测试设备，其自动测试设备包括第一电源、第二电源及第三电源。第一电源连接在待测晶体管的集电极与发射极之间，为待测晶体管的集电极‑发射极的两端提供预设恒定电压；第二电源与待测晶体管的发射极连接，为发射极提供预设的电流源；第三电源与待测晶体管的基极连接；为基极提供电压源，并测得基极电流，其中，第一电源、第二电源及第三电源均为精密测量单元，仅需一次测量就可以直接读取发射极电流和基极电流，根据发射极电流与基极电流的比值，就可以快速得出待测晶体管的直流放大倍数，高效而且精确度高，同时操作也极其简便。此外，还提供一种晶体管直流放大倍数的测试方法。 | ||
| 搜索关键词： | 晶体管 直流 放大 倍数 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种晶体管直流放大倍数的测试装置，用于测试待测晶体管的直流放大倍数，包括自动测试设备，其特征在于，所述自动测试设备包括第一电源、第二电源及第三电源；所述第一电源连接在所述待测晶体管的集电极与发射极之间，为所述待测晶体管的集电极与发射极提供预设电压源，且使所述集电极与发射极两端的电压恒定；所述第二电源与所述待测晶体管的发射极连接，用于为所述发射极提供预设的电流源；所述第三电源与所述待测晶体管的基极连接；用于为所述基极提供电压源，并测得所述基极的电流，其中，所述第一电源、第二电源及第三电源均为精密测量单元。
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