[发明专利]基于光照模型的离散曲面品质分析方法及系统有效
申请号: | 201610316025.1 | 申请日: | 2016-05-13 |
公开(公告)号: | CN106021885B | 公开(公告)日: | 2018-08-21 |
发明(设计)人: | 纪小刚;薛杰;朱仕魁;刘大鹏 | 申请(专利权)人: | 江南大学 |
主分类号: | G06F17/50 | 分类号: | G06F17/50;G06T17/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 214122 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种基于光照模型的离散曲面品质分析方法,即三角网格曲面的品质检查方法,包含“反射线法”、“高光线法”、“高光圆法”和“等照度线法”四种方法,可实现stl数据读取和处理、曲面特征及广义边界提取、光源参数交互式设定和曲面品质分析线快速绘制。本发明的曲线计算理论具有简洁的计算模型和较高的计算效率,四种分析方法距离函数有效实现统一化和集成化。本发明在离散曲面品质上具有优良的稳定性和普适性,可以同时实现离散曲面光顺性和连续性的检查。 | ||
搜索关键词: | 基于 光照 模型 离散 曲面 品质 分析 方法 系统 | ||
【主权项】:
1.一种基于光照模型的离散曲面品质分析方法,其特征在于包括以下步骤:(一)stl数据读取与处理:读入离散曲面模型的stl数据,建立关联表存储三角网格曲面中点线面的数据,进而提取出点线面之间拓扑关系;计算三角网格顶点的法矢量并存入关联表中的点表;(二)特征提取与边界提取:采用几何张量法识别和提取离散曲面特征,首先计算任意网格点P处的特征张量T(p),再计算出张量矩阵的特征值λ1、λ2和λ3,且满足λ1≥λ2≥λ3≥0,将特征值采用归一化处理得到一组新的特征值:将特征值λ2处于[0.02,0.2]区间的网格点标记为弱特征点,将特征值λ2>0.2的网格点归为强特征点;根据特征成链准则判断和剔除弱特征点中的噪音点;对于所有得到的特征点采用公式(2)重新计算法矢量:其中,Nf1和Nf2分别代表点P邻域内两个子网格面的面片索引集合,di,j为点Pi与点Vj的距离;最后定义“广义边界”,既包括狭义概念下的离散曲面边界,还包括已提取的由曲面特征点构成的特征边;(三)绘制曲面品质分析线根据已设定的光源,计算离散曲面网格点法矢量与基准光源的距离值d(u,v),假设点P为三角网格曲面网格顶点,对应法向矢量为N,L0为光源直线上一点,Q为表示入射光线方向的单位向量,H表示光源线方向的单位向量,光源平面法向单位矢量为Z,则反射线法距离曲面的构建采用公式(3):高光线法距离曲面的构建采用公式(4):O点为同心圆形光源线的圆心,高光圆法距离曲面的构建采用公式(5):等照度线法距离曲面的构建采用公式(6):ds(u,v)=∠(Q,N) (6)再构造离散距离曲面,遍历网格边找到所有曲面品质分析线经过的网格边,采用线性插值算法计算出曲面品质分析线的型值点,最后根据所得点绘制曲面品质分析线。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于江南大学,未经江南大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201610316025.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。