[发明专利]一种半电波暗室场均匀性测试装置及其方法

摘要

本发明公开了一种半电波暗室场均匀性测试装置，包括半电波暗室和控制室，控制室位于半电波暗室外，且半电波暗室和控制室互为独立空间，半电波暗室内设置有发射天线和全向场探头，且发射天线和全向场探头之间的地上铺设有吸波材料；控制室内设置有信号发生器，信号发生器依次连接有功率放大器和定向耦合器，定向耦合器通过射频电缆连接位于半电波暗室内的发射天线。本发明能够对不同尺寸的半电波暗室进行场均匀性的测试，能够根据不同的半电波暗室尺寸，寻找到在电磁辐射抗扰度试验中EUT的最佳位置，从而能够更加准确的评估EUT的抗干扰性能，使结果更加的准确可靠，提高了测试效率，有效降低了测试成本和生产成本。

主权项

1.一种半电波暗室场均匀性测试装置，其特征在于：包括半电波暗室和控制室，所述控制室位于半电波暗室外，且半电波暗室和控制室互为独立空间，所述半电波暗室内设置有发射天线和全向场探头，且发射天线和全向场探头之间的暗室地板上铺设有吸波材料；所述控制室内设置有信号发生器，所述信号发生器依次连接有功率放大器和定向耦合器，所述定向耦合器通过射频电缆连接位于半电波暗室内的发射天线，所述定向耦合器还连接有功率计；所述控制室内还设置有场强计，所述场强计通过光纤连接位于半电波暗室内的全向场探头；距离半电波暗室地面的高度不低于0.8m的水平面为测试平面，在待测区内选取一个方形区域，且在此区域内网格点场强容差在0‑+6db范围内的网格点占所有网格点数量的75%，此区域即为水平均匀域；在水平均匀域上方且垂直于水平均匀域设有垂直测试面。