[发明专利]一种高阻尼微幅隔振器的性能测试方法

摘要

本发明的高阻尼微幅隔振器的性能测试方法，其利用激振器通过加载杆将激励载荷施加到高阻尼微幅隔振器上；力传感器I将施加到高阻尼微幅隔振器上的激励载荷实时反馈给控制系统；加速度传感器I和加速度传感器II实时测量高阻尼微幅隔振器两端的加速度值；力传感器II实时测量高阻尼微幅隔振器输出的力值；数据采集与分析系统实时采集并记录加速度传感器I、加速度传感器II和力传感器II的测量数据；利用数据采集与分析系统获得激励频率下高阻尼微幅隔振器的迟滞环曲线，即恢复力Fd‑相对位移x曲线；控制系统则根据力传感器I反馈的激励载荷，结合恢复力Fd‑相对位移x曲线控制控制驱动器对激振器输出载荷进行实时调控，以进行性能测试。

主权项

1.一种高阻尼微幅隔振器的性能测试方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1，设计并安装高阻尼微幅隔振器的性能测试装置，设计的性能测试装置包括：安装座I(1)、激振器(2)、加载杆(3)、力传感器I(4)、加速度传感器I(5)、加速度传感器II(7)、力传感器II(8)、安装座II(9)、测试平台(10)、数据采集与分析系统(11)、控制系统(12)和控制驱动器(13)；测试对象为高阻尼微幅隔振器(6)；并进行安装：安装座I(1)和安装座II(9)固定于测试平台(10)上；激振器(2)、加载杆(3)、力传感器I(4)、高阻尼微幅隔振器(6)、力传感器II(8)依次连接并夹持于安装座I(1)和安装座II(9)之间，且安装座I(1)与激振器(2)固连，力传感器II(8)与安装座II(9)固连；加速度传感器I(5)、加速度传感器II(7)分别设于高阻尼微幅隔振器(6)的两端；激振器(2)输出端轴线、加载杆(3)、高阻尼微幅隔振器(6)同轴；数据采集与分析系统(11)分别与加速度传感器I(5)、加速度传感器II(7)和力传感器II(8)连接，控制系统(12)分别与控制驱动器(13)、力传感器I(4)连接，控制驱动器(13)与激振器(2)连接；步骤2，进行测试：利用激振器(2)通过加载杆(3)将激励载荷施加到高阻尼微幅隔振器(6)上；力传感器I(4)将施加到高阻尼微幅隔振器(6)上的激励载荷实时反馈给控制系统(12)；加速度传感器I(5)和加速度传感器II(7)实时测量高阻尼微幅隔振器(6)两端的加速度值；力传感器II(8)实时测量高阻尼微幅隔振器(6)输出的力值；数据采集与分析系统(11)实时采集并记录加速度传感器I(5)、加速度传感器II(7)和力传感器II(8)的测量数据；步骤3，数据处理：数据采集与分析系统(11)通过对加速度传感器I(5)和加速度传感器II(7)的测量数据分别进行两次积分，分别获得激励频率下高阻尼微幅隔振器(6)输入端和输出端的位移，由输出端位移减去输入端位移即可得到高阻尼微幅隔振器输出端的相对位移x；并利用高阻尼微幅隔振器输出端的相对位移x，结合力传感器II(8)的测量数据，得到激励频率下高阻尼微幅隔振器(6)的迟滞环曲线，即恢复力Fd‑相对位移x曲线；控制系统(12)则根据力传感器I(4)反馈的激励载荷，结合恢复力Fd‑相对位移x曲线控制控制驱动器(13)对激振器(2)输出载荷进行实时调控，以进行性能测试，所述性能测试的指标包括：高阻尼微幅隔振器的刚度系数K(ω)及其置信下限KL(ω)和置信上限KU(ω)、高阻尼微幅隔振器的阻尼系数C(ω)及其置信下限CL(ω)和置信上限CU(ω)；其中，ω为激励频率，下标L、U分别表示下限和上限。