[发明专利]一种常温常压微米级热稳定性试验系统及试验方法有效

专利信息
申请号: 201610318529.7 申请日: 2016-05-13
公开(公告)号: CN105823793B 公开(公告)日: 2019-02-12
发明(设计)人: 刘国青;罗文波;阮剑华;白刚;蔡铮;孙腾飞;童叶龙;王杰利;杨文涛;张国斌;杨国巍;戴超;曾福明;杨巧龙;史文华;高峰;钱志英 申请(专利权)人: 北京空间飞行器总体设计部
主分类号: G01N25/20 分类号: G01N25/20;G01B11/16
代理公司: 北京理工大学专利中心 11120 代理人: 张瑜;仇蕾安
地址: 100094 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供一种常温常压微米级热稳定性试验系统及试验方法,其试验系统包括:支撑架、支撑平台、CCD相机、图像处理计算机、热控加热器、热控程控电源、测温元件、热控测温采集卡、热控计算机;被测对象为测量结构;测量结构与支撑架均固定在支撑平台上;CCD相机安装于支撑架上,安装位置满足CCD相机监测到测量结构的安装面和主支撑结构外表面;图像处理计算机与CCD相机连接;热控加热器、测温元件均布置于测量结构的表面,热控程控电源与热控加热器连接;热控测温采集卡与测温元件连接,热控计算机分别与热控程控电源、热控测温采集卡连接。本发明的试验系统及方法可以有效消除测试噪声影响,保证常温常压条件下测试精度。
搜索关键词: 一种 常温 常压 微米 热稳定性 试验 系统 方法
【主权项】:
1.一种常温常压微米级热稳定性试验系统的试验方法,其特征在于,所述常温常压微米级热稳定性试验系统包括:支撑架(2)、支撑平台(3)、CCD相机(4)、图像处理计算机(5)、热控加热器(6)、热控程控电源(7)、测温元件(8)、热控测温采集卡(9)、热控计算机(10);被测对象为测量结构(1);测量结构(1)与支撑架(2)均固定在支撑平台(3)上;CCD相机(4)安装于支撑架(2)上,安装位置满足CCD相机(4)监测到测量结构(1)的安装面和主支撑结构外表面;图像处理计算机(5)与CCD相机(4)连接;热控加热器(6)、测温元件(8)均布置于测量结构(1)的表面,热控程控电源(7)与热控加热器(6)连接;热控测温采集卡(9)与测温元件(8)连接,热控计算机(10)分别与热控程控电源(7)、热控测温采集卡(9)连接;所述测温元件(8)的热电偶精度需达到±2℃,测温元件(8)的热敏电阻精度需达±1℃,热电偶或热敏电阻间距不大于结构宏观尺寸的10%;该试验系统的试验方法,包括以下步骤:步骤1,将测量结构(1)表面涂上散斑;步骤2,启动所述常温常压微米级热稳定性试验系统,热控程控电源(7)为热控加热器(6)提供热控所需电源,热控加热器(6)为测量结构(1)加载热载荷;热控测温采集卡(9)通过测温元件(8)采集被测结构(1)上各温度测量点的温度;且加载热载荷每至一个温度时,各温度载荷步的稳定时间为50-60分钟,各温度载荷步的稳定误差为±1℃;温度稳定后,热控计算机(10)控制热控程控电源(7)的启动与关闭,并获取热控测温采集卡(9)连续采集的各温度测量点的温度,且采集频率为1Hz,采集次数为60-100次;在上述每一个温度下,图像处理计算机(5)单独控制CCD相机(4)或者热控计算机(10)触发图像处理计算机(5)控制CCD相机(4)进行图像数据的采集,采集的图像数据为测量结构(1)的安装面和主支撑结构外表面在三个空间方向上的变形;然后图像处理计算机(5)对CCD相机(4)采集到的图像数据进行散斑变化的分析处理,获得面的位移值和位移变化云图;步骤3,热控计算机(10)对热控测温采集卡(9)连续采集的各温度测量点的温度及该温度下对应的图像处理计算机(5)获得的面的位移值进行数据处理,获得并显示热稳定性数据。
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