[发明专利]多IGBT模块综合老化特征量测量装置

摘要

本发明提供的多IGBT模块多老化特征量提取装置，包括待测IGBT模块、老化特征量测量主板和驱动电路，所述驱动电路设置于老化特征量测量主板，所述待测IGBT模块为多个，多个待测IGBT模块并联设置在老化特征量测量主板的测量工位，通过老化特征量测量主板获取待测IGBT模块的老化特征量参数；本发明中的多IGBT模块多老化特征量提取装置，可以在同一恒温环境下，对多个IGBT的多个老化特征量进行快速测量，最大限度的减少了测量时间和保证了测量环境的一致性，本发明通过饱和导通压降、传输特性曲线、寄生电容和IGBT开关暂态波形多种老化特征量共同进行判断，保证了测量结果的准确度。

主权项

1.一种多IGBT模块多老化特征量提取装置，其特征在于：包括待测IGBT模块、老化特征量测量主板和驱动电路，所述驱动电路设置于老化特征量测量主板，所述待测IGBT模块为多个，多个待测IGBT模块并联设置在老化特征量测量主板的测量工位，通过老化特征量测量主板获取待测IGBT模块的老化特征量参数；所述老化特征量参数包括饱和导通压降、传输特性曲线、门极寄生电容和IGBT开关暂态波形，通过所述IGBT开关暂态波形提取密勒平台、寄生电感和开关时间；老化特征量测量主板设置有脉冲测试电路，所述脉冲测试电路包括单脉冲测试电路和双脉冲测试电路，所述单脉冲测试电路用于测量IGBT的传输特性曲线和饱和导通压降，所述双脉冲测试电路用于测量IGBT的常规开关暂态波形和门极寄生电容；还包括数字信号处理器，所述数字信号处理器与脉冲测试电路连接，用于发送单脉冲信号或双脉冲信号，通过数字信号处理器使脉冲测试电路输出双脉冲信号，采集待测IGBT模块的基极与发射极之间的电压与集电极电流的关断暂态波形，获取双脉冲回路等效电感，老化前后的待测IGBT模块寄生电感通过如下公式获取：其中，LE+LC为IGBT模块的寄生电感，LS为母线等效电感，ΔVCE为待测IGBT模块集‑射极电压的关断超调部分，ΔIC为Δt时间内集电极电流的变化量。