[发明专利]存储器操作电压的侦测电路在审
| 申请号： | 201610319267.6 | 申请日： | 2016-05-13 |
| 公开（公告）号： | CN106024069A | 公开（公告）日： | 2016-10-12 |
| 发明（设计）人： | 杨光军 | 申请（专利权）人： | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/50 | 分类号： | G11C29/50 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司11227 | 代理人： | 张凤伟;吴敏 |
| 地址： | 201203 上海市浦东*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种存储器操作电压的侦测电路，所述侦测电路包括：分压电路，缓冲电路以及存储器测试机台，其中：所述分压电路，适于对存储器的操作电压进行分压，以输出分压电压；所述缓冲电路，适于对所述分压电压进行驱动并输入至所述存储器测试机台的测试通道；所述存储器的测试机台，包括多个测试通道，适于对所述操作电压进行侦测，以输出相应的侦测结果。应用上述侦测电路可以快捷地对存储器操作电压进行侦测，并且电路结构更加简单，易于实现。 | ||
| 搜索关键词： | 存储器 操作 电压 侦测 电路 | ||
【主权项】：
一种存储器操作电压的侦测电路，其特征在于，包括：分压电路，缓冲电路以及存储器测试机台，其中：所述分压电路，适于对存储器的操作电压进行分压，以输出分压电压；所述缓冲电路，适于对所述分压电压进行驱动并输入至所述存储器测试机台的测试通道；所述存储器的测试机台，包括多个测试通道，适于对所述操作电压进行侦测，以输出相应的侦测结果。
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