[发明专利]摄影测量系统的精度确定方法

摘要

本发明公开了一种摄影测量系统的精度确定方法，包括对稳定被测物上的大量单点进行多次摄影测量，记录所有单点每次的三维坐标值，在测量控制场中布设若干已知长度的被测物，在单点的多次测量过程中，将同时获得所有被测长度每次的测量值；利用单点测量精度与长度测量精度计算公式，将单点测量数据与长度测量数据换算成单点测量精度及长度测量精度，根据统计学中方差的概念，确定单点测量精度的可靠性。本发明的精度确定方法能够实现准确衡量不同摄影测量系统的测量精度，也可为选取更为合理的摄影测量网形提供依据。

主权项

1.航天器进行变形测量的摄影测量系统精度确定方法，包括如下步骤：1)通过建立误差球的概念定义单点测量精度以及长度测量精度，其中误差球定义为以被测点的真值为球心，测量值与真值的偏差为半径的虚拟球；所述被测点即粘贴在被测物上的定向回光反射标志点，摄影测量是以粘贴在被测物上的回光反射标志点的物方空间坐标系来描述和还原被测物的信息的；所述真值即在物方空间坐标系下，该回光反射标志点的真实三维坐标；单点测量精度定义为同一测量条件下，对被测点进行多次测量，测量值落在半径为δ的误差球内，半径δ即定义为单点测量精度；2)利用近景摄影测量外精度的概念定义长度测量精度，即在控制场内放置已知被测长度的被测物，用摄影测量法对其进行测量，测量值与被测长度标定值之差；3)对稳定被测物上的大量单点进行多次摄影测量，记录所有单点每次的三维坐标值，在测量控制场中布设若干已知长度的被测物，在单点的多次测量过程中，将同时获得所有被测长度每次的测量值；4)利用单点测量精度与长度测量精度计算公式，将单点测量数据与长度测量数据换算成单点测量精度及长度测量精度，根据统计学中方差的概念，理论上长度测量精度是单位测量精度的倍，由此可确定单点测量精度的可靠性。