[发明专利]新晶体结构全氟酞菁铜（η-F16CuPc）、其制造方法及应用

摘要

一种全氟酞菁铜(η‑F₁₆CuPc)，该全氟酞菁铜(η‑F₁₆CuPc)的X‑射线衍射谱(测试条件：Cu_Kα1，0.02°/step/1s)在下列的2θ±0.10°处具有至少一个特征峰：6.32°、6.60°、7.06°和27.72°。

主权项

一种全氟酞菁铜(η‑F₁₆CuPc)，其特征在于所述全氟酞菁铜(η‑F₁₆CuPc)的X‑射线衍射谱，测试条件：Cu_Kα1，0.02°/step/1s，在下列的2θ±0.10°处具有至少一个特征峰：6.32°、6.60°、7.06°和27.72°。