[发明专利]X射线荧光分析仪器及用于其的样品容器有效
| 申请号： | 201610330739.8 | 申请日： | 2016-05-18 |
| 公开（公告）号： | CN107402196B | 公开（公告）日： | 2020-09-25 |
| 发明（设计）人： | 徐章程 | 申请（专利权）人： | 株式会社岛津制作所 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64 |
| 代理公司： | 上海市华诚律师事务所 31210 | 代理人： | 徐乐乐 |
| 地址： | 日本京都府京都*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供一种用于测量粉末样品或轻质材料样品的X射线荧光分析仪器以及用于X射线荧光分析仪器的样品容器，X射线荧光分析仪器包括X射线发生装置、X射线探测装置和样品容器，样品容器由容器盖、容器侧壁和容器底部构成，用于存放样品，所述容器盖和所述容器侧壁中的至少一个内嵌多晶粉末材料。初级X射线穿透样品后会被样品容器中的多晶粉末衍射，部分衍射X射线会返回样品中再次激发荧光X射线，因此，从样品射出的荧光X射线信号会得到加强，从而提高了X射线荧光分析仪器的灵敏度。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 荧光 分析仪器 用于 样品 容器 | ||
【主权项】：
一种用于X射线荧光分析仪器的样品容器，其特征在于，所述样品容器由容器盖、容器侧壁和容器底部构成，用于存放样品，其中，所述容器盖和所述容器侧壁中的至少一个镶嵌有多晶粉末材料。
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