[发明专利]一种用于X射线光栅相衬成像装置的探测器图像校正方法有效
| 申请号： | 201610331299.8 | 申请日： | 2016-05-17 |
| 公开（公告）号： | CN106023107B | 公开（公告）日： | 2020-03-27 |
| 发明（设计）人： | 刘刚;胡仁芳;昝贵彬;韩华杰;高昆;陆亚林 | 申请（专利权）人： | 中国科学技术大学 |
| 主分类号： | G06T5/00 | 分类号： | G06T5/00;G06T1/00;G06T5/50 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 任岩 |
| 地址： | 230026 安*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： |
本发明提供了用于X射线光栅相衬成像装置的探测器图像校正方法，方法首先将源光栅、分束光栅和分析光栅从光路中移除，在X射线管关闭的状态下，采集探测器输出的图像，作为暗电流校正图像I |
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| 搜索关键词： | 一种 用于 射线 光栅 成像 装置 探测器 图像 校正 方法 | ||
【主权项】：
一种用于X射线光栅相衬成像装置的探测器图像校正方法，所述X射线光栅相衬成像装置包括X射线管、源光栅、分束光栅、分析光栅和探测器，X射线管产生X射线依次经过源光栅、分束光栅、和分析光栅后，在探测器上形成探测器图像，其特征在于，探测器图像校正方法包括：S1，采集暗电流校正图像Ioffset：将源光栅、分束光栅和分析光栅从光路中移除，在X射线管关闭的状态下，采集探测器输出的图像，作为暗电流校正图像Ioffset；S2，采集增益校正图像Igain：将源光栅放置于X射线管和探测器之间，打开X射线管，采集探测器输出的图像，作为采集增益校正图像Igain；S3，采集数据图像Iacquire：将源光栅、分束光栅和分析光栅放回光路中，并将样品放置于源光栅和分束光栅之间或者分束光栅和分析光栅之间的光路上，采集探测器输出的图像，作为数据图像Iacquire；S4，校正数据图像Iacquire：根据暗电流校正图像Ioffset和增益校正图像Igain对校正数据图像Iacquire进行暗电流校正和增益校正，得到校正后的数据图像I。
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