[发明专利]一种使用普通颗粒对激光颗粒计数器进行校准的方法

摘要

本发明提供了一种使用普通颗粒对激光颗粒计数器进行校准的方法，该使用普通颗粒对激光颗粒计数器进行校准的方法包括以下步骤：放入整体的颗粒尺寸分布服从对数正态分布的颗粒；把颗粒的重量分布转换为尺寸分布；通过激光颗粒计数器采集颗粒的电信号；筛选出电信号正态分布的均数μ_I；通过均数μ_I得到校准的电信号。本发明的有益效果是：提高了校准的准确度，排除了标准设备自身的误差以及颗粒在空间分布不均匀对校准结果造成的干扰；其次实现了纯自动化校准，提高校准结果的准确性和校准的效率；同时也降低了校准的成本，实现了提高效率和降低成本的双重目的。

主权项

1.一种使用普通颗粒对激光颗粒计数器进行校准的方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：放入整体的颗粒尺寸分布服从对数正态分布的颗粒；把颗粒的重量分布转换为尺寸分布；通过激光颗粒计数器采集颗粒的电信号；筛选出电信号正态分布的均数；通过均数得到校准的电信号；还包括：通过采购标签上获得对数正态分布颗粒的均数和标准差，或者对标准颗粒首先进行测试，获得其重量的正态分布规律；所述转换的颗粒的尺寸分布的正态分布方程为： ，其中为尺寸分布的均数，为尺寸分布的方差；为重量分布的均数，为重量分布的方差。