[发明专利]一种测试QPI data lane Degrade功能的方法

摘要

本发明公开了一种测试QPI data lane Degrade功能的方法，所述方法在设置有XDP接口，支持QPI data lane Degrade功能的CPU应用的服务器产品中，在开启data lane Degrad功能的情况下，通过ITP工具将QPI其中一条半宽链路注入错误，使其无法正常进行CPU间的数据传输，来模拟实际应用中出现的QPI data lane数据传输中断，检测当其中一条半宽链路故障停止工作时，另一条半宽链路是否继续数据传输，而不会发生服务器宕机现象，从而测试QPI Degrade功能。本发明方法测试方法操作简单，实用性较强，能准确的检测QPI Data Lane Degrade功能，有效确保了服务器的可靠性和安全性。

主权项

一种测试QPI data lane Degrade功能的方法，其特征在于：所述方法在设置有XDP接口，支持QPI data lane Degrade功能的CPU应用的服务器产品中，在开启data lane Degrad功能的情况下，通过ITP工具将QPI其中一条半宽链路注入错误，使其无法正常进行CPU间的数据传输，来模拟实际应用中出现的QPI data lane数据传输中断，检测当其中一条半宽链路故障停止工作时，另一条半宽链路是否继续数据传输，而不会发生服务器宕机现象，从而测试QPI Degrade功能。