[发明专利]一种不良子像素的定位方法、装置有效
| 申请号： | 201610341588.6 | 申请日： | 2016-05-20 |
| 公开（公告）号： | CN105788500B | 公开（公告）日： | 2018-12-11 |
| 发明（设计）人： | 谈世栋;黄正阳;刘正才;胥大千 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司;重庆京东方光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G09G3/00 | 分类号： | G09G3/00 |
| 代理公司： | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人： | 汪源;陈源 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种不良子像素的定位方法、装置，属于显示技术领域，其可解决现有的不良子像素的定位方法无法对在显示信号下能显示其正常颜色但显示灰度不同的不良子像素进行定位的问题。本发明的不良子像素的定位方法，包括：向显示面板输入测试信号，以使显示面板显示测试画面，以通过不良图形确定出不良子像素的颜色；向显示面板输入检测信号，以使显示面板的多个检测画面依次显示，直至某一检测画面中不良图形与检测图形重合；根据检测子像素的位置确定出不良子像素的位置。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 不良 像素 定位 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种不良子像素的定位方法，其特征在于，包括：向显示面板输入测试信号，以使显示面板显示测试画面，所述显示面板包括依次排列的像素，每个所述像素包括多个子像素，所述测试画面包括不良图形，以通过所述不良图形确定出不良子像素的颜色，所述不良图形对应于不良子像素；向显示面板输入检测信号，以使显示面板的多个检测画面依次显示，每个所述检测画面包括不良图形和检测图形，所述检测图形对应于与所述不良子像素的颜色相同的检测子像素，所述检测信号包括检测子像素的灰度值所对应的电压，所述检测子像素的灰度值与其余子像素的灰度值不同，直至某一检测画面中不良图形与检测图形重合；其中，所述检测画面包括检测区域，所述检测区域包括检测图形，所述检测区域对应于检测像素，所述检测像素包括检测子像素；根据检测子像素的位置确定出不良子像素的位置。
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