[发明专利]氢气检查方法以及氢气检查装置在审
申请号: | 201610341763.1 | 申请日: | 2016-05-20 |
公开(公告)号: | CN106370641A | 公开(公告)日: | 2017-02-01 |
发明(设计)人: | 长崎纯久;铃木信靖;杉尾幸彦 | 申请(专利权)人: | 松下知识产权经营株式会社 |
主分类号: | G01N21/65 | 分类号: | G01N21/65 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司72002 | 代理人: | 徐殿军 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 一种氢气检查装置和氢气检查方法,以非接触的方式安全地检查无色无味的氢气的存在有无及/或氢气的浓度。将来自半导体发光元件的出射光用荧光体波长变换为波长比上述出射光的波长长的光,对检查对象空间照射上述波长变换后的光,通过检测在被照射了上述波长变换后的光的上述检查对象空间中发生的散射光中的、通过存在于上述检查对象空间的氢气而产生的拉曼散射光,从而检查上述氢气的存在有无及/或上述氢气的浓度。 | ||
搜索关键词: | 氢气 检查 方法 以及 装置 | ||
【主权项】:
一种氢气检查方法,其特征在于,将来自半导体发光元件的出射光用荧光体波长变换为波长比上述出射光的波长长的光,对检查对象空间照射上述波长变换后的光,通过检测在被照射了上述波长变换后的光的上述检查对象空间中发生的散射光中的、通过存在于上述检查对象空间的氢气而产生的拉曼散射光,从而检查上述氢气的存在有无及/或上述氢气的浓度。
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