[发明专利]确定用于检测的光照强度的方法和装置、及光学检测方法和装置有效
| 申请号： | 201610342920.0 | 申请日： | 2016-05-23 |
| 公开（公告）号： | CN105911724B | 公开（公告）日： | 2018-05-25 |
| 发明（设计）人： | 王旭;刘超强;习征东;刘洋 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司;重庆京东方光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13;G01J1/00 |
| 代理公司： | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人： | 牛南辉;李峥 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本公开涉及一种确定用于检测的光照强度的方法和装置、及光学检测方法和装置。一种确定用于检测的光照强度的方法包括：获取至少一个成像元件中的每个成像元件在多个光照强度下对待检测样品拍摄的图像；对于每个成像元件，计算在所述多个光照强度下获取的图像中的每幅图像的灰度标准差；根据所述灰度标准差确定每个成像元件的所述用于检测的光照强度。采用根据本公开提供的方法确定的光照强度对待检测对象进行检测，能够提高检测的准确度。 | ||
| 搜索关键词： | 光照 方法和装置 成像元件 检测 光学检测 标准差 图像 灰度 检测对象 检测样品 准确度 拍摄 | ||
【主权项】：
1.一种确定用于检测的光照强度的方法，其特征在于，所述方法包括：获取至少一个成像元件中的每个成像元件在多个光照强度下对待检测样品拍摄的图像；对于每个成像元件，计算在所述多个光照强度下获取的图像中的每幅图像的灰度标准差；根据所述灰度标准差确定每个成像元件的所述用于检测的光照强度。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于京东方科技集团股份有限公司;重庆京东方光电科技有限公司，未经京东方科技集团股份有限公司;重庆京东方光电科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201610342920.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：液晶显示面板制造方法及彩色滤光片基板制造方法
- 下一篇：一种显示装置
