[发明专利]多轴斜置光纤陀螺组合标度因数性能的测试方法

摘要

本发明公开了一种多轴斜置光纤陀螺组合标度因数性能的测试方法，该方法包括以下步骤：多轴斜置光纤陀螺组合安装在三轴转台上，先测算出多轴斜置光纤陀螺组合中各陀螺的敏感轴相对三轴转台外框旋转轴的安装误差，再根据测算出的安装误差和标度因数测试规定的速率点，推算出本测试方法中三轴转台外框转动的速率点，之后进行测试。通过本测试方法可以同时计算出多轴斜置光纤陀螺组合中各只陀螺的标度因数性能参数的数值。本发明对陀螺组合的安装形式没有严格要求，对陀螺组合安装的工装精度没有要求，将原有方法的测试时间缩短到1/N(N为多轴斜置光纤陀螺组合中陀螺轴的个数)。

主权项

1.一种多轴斜置光纤陀螺组合标度因数性能的测试方法，其特征在于，该方法先通过转台试验和相应的数据处理测算出多轴斜置光纤陀螺组合中各只陀螺的敏感轴相对三轴转台外框旋转轴的安装误差E_qZ；当三轴转台外框旋转轴上的输入角速率为ω_i′时，通过安装误差E_qZ，在标度因数试验和相应的数据处理中可以求得多轴斜置光纤陀螺组合中各只陀螺敏感轴上的输入角速率Ω_qi；在外框旋转轴上的输入角速率为ω_i′下，采集多轴斜置光纤陀螺组合中各只陀螺在t时间内的累积输出R_qi；最后针对多轴斜置光纤陀螺组合中各只陀螺以Ω_qi作为敏感轴角速率的输入序列，以R_qi作为陀螺的输出序列，根据《GJB2426A‑2004光纤陀螺仪测试方法》一次性对多轴斜置光纤陀螺组合中所有陀螺的标度因数性能进行测试；所述转台试验和相应的数据处理具体包括以下步骤：(1)将多轴斜置光纤陀螺组合安装在三轴转台上，并使得多轴斜置光纤陀螺组合的基体系Z轴与转台外框旋转轴重合；(2)将基体系Z轴与外框旋转轴重合后，选定转台的角速率为ω，分别以±ω转动转台的外框，转动时间为t，采集敏感轴q的陀螺在t时间内的累积输出，得到正转的累积输出R_qZ+和反转的累积输出R_qZ‑；其中，q＝A₁、A₂、A₃...A_N，|ω|*t＝360°*Q，N为多轴斜置光纤陀螺组合中陀螺轴的个数，Q为正整数，ω单位为°/s，t的单位为s；下标Z代表基体系Z轴与外框旋转轴重合，下标+表示正转，下标‑表示反转，逆时针为正转，顺时针为反转；(3)调整内框、中框的位置，使基体系的X轴、Y轴分别与外框旋转轴重合，重复步骤(2)，分别得到基体系X轴与外框旋转轴重合后多轴斜置陀螺组合中敏感轴q在正转和反转下的累积输出R_qX+、R_qX‑以及基体系Y轴与外框旋转轴重合后多轴斜置陀螺组合中敏感轴q在正转和反转下的累积输出R_qY+、R_qY‑；(4)经过步骤(2)和步骤(3)，得到多轴斜置陀螺组合中各只陀螺的累积输出为R_qZ+、R_qZ‑、R_qX+、R_qX‑和R_qY+、R_qY‑；根据安装误差的计算原理可得多轴斜置光纤陀螺组合中敏感轴为q的陀螺与外框旋转轴的安装误差E_qZ：