[发明专利]阻抗测试探针组件有效
| 申请号： | 201610348108.9 | 申请日： | 2016-05-24 |
| 公开（公告）号： | CN105823912B | 公开（公告）日： | 2018-10-02 |
| 发明（设计）人： | 黄韬 | 申请（专利权）人： | 南京协辰电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/073 | 分类号： | G01R1/073 |
| 代理公司： | 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250 | 代理人： | 李旦华 |
| 地址： | 211100 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明提供的阻抗测试探针组件，包括：至少两个由探针内导体和包覆在探针内导体外的屏蔽层构成的阻抗测试探针，及用于电连接两所述阻抗测试探针的导体结构；其中每两个阻抗测试探针组成一个阻抗测试探针对；每一阻抗测试探针的屏蔽层上均设有导电弹性元件，构成阻抗测试探针对的两个阻抗测试探针上的导电弹性元件在各自的弹力的作用下分别与同一所述导体结构紧密接触。本发明的阻抗测试探针组件，阻抗测试探针对的两个阻抗测试探针的屏蔽层之间通过导体结构实现良好的电连通，可有效避免高频信号失真，保证阻抗测试结果的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 阻抗 测试 探针 组件 | ||
【主权项】：
1.一种阻抗测试探针组件，其特征在于，包括：至少两个由探针内导体(11)和包覆在所述探针内导体(11)外的屏蔽层(12)构成的阻抗测试探针(1)，及用于电连接两所述阻抗测试探针(1)的导体结构(2)；其中每两个所述阻抗测试探针(1)组成一个阻抗测试探针对；每一所述阻抗测试探针(1)的所述屏蔽层(12)上均设有导电弹性元件，构成所述阻抗测试探针对的两个所述阻抗测试探针(1)上的所述导电弹性元件在各自的弹力的作用下分别与同一所述导体结构(2)紧密接触。
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