[发明专利]一种平面定位装置及其测量方法有效
申请号: | 201610348924.X | 申请日: | 2016-05-24 |
公开(公告)号: | CN105823427B | 公开(公告)日: | 2018-09-28 |
发明(设计)人: | 王勇;闵雪刚 | 申请(专利权)人: | 湖北航天长征装备有限公司 |
主分类号: | G01B11/14 | 分类号: | G01B11/14;G01B11/26 |
代理公司: | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人: | 徐文权 |
地址: | 432000*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明公开了一种平面定位测量装置及方法,包括不可移动的基准面和可移动的校准面,校准面面向基准面的一侧平面上沿X轴方向对称设置有两组活动支架,每组活动支架上分别设置有可活动的基准定位激光指示器和比较定位激光指示器,基准定位激光指示器分别沿Y轴方向垂直照射到基准面上,通过和比较定位激光指示器配合向基准面上照射光线进行两平面间的定位测量;由已知的两平面之间的距离L和两个激光指示器之间的距离d,计算得到比较定位激光指示器的倾斜角度θ,调整激光指示器进行两平面测量。本发明结构简单,体积小,采用非接触式测量,无磨损,便于安装和维护且成本低,方向性好,测量精度高,能够提高平面定位的精确性。 | ||
搜索关键词: | 一种 平面 定位 装置 及其 测量方法 | ||
【主权项】:
1.一种平面定位装置,其特征在于:包括基准面(1)和可移动的校准面(6),所述校准面(6)面向基准面(1)的一侧平面上沿X轴方向对称设置有两组活动支架,每组活动支架上均设置有可活动的基准定位激光指示器和可活动的比较定位激光指示器,所述基准定位激光指示器分别沿Y轴方向垂直照射到基准面(1)上,通过和比较定位激光指示器配合向基准面(1)上照射光线进行两平面间的定位测量。
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