[发明专利]一种紫外光波长测量仪器的校准装置及方法在审

专利信息
申请号: 201610349525.5 申请日: 2016-05-18
公开(公告)号: CN106092337A 公开(公告)日: 2016-11-09
发明(设计)人: 尚福洲;高业胜 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第四十一研究所
主分类号: G01J9/00 分类号: G01J9/00;G01J9/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 266555 山东省*** 国省代码: 山东;37
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提出了一种紫外光波长测量仪器的校准装置,包括:可见光激光器、分光器、倍频系统、可见光波长计和待校准的紫外光波长测量仪器。本发明利用倍频技术将可见光倍频至紫外波段,并利用可见光波长计实时监测输出可见光的波长值,通过比对紫外光波长测量仪器所测得的倍频系统输出光波长值与可见光波长计所监测的可见光波长值,来实现对紫外光波长测量仪器的校准。本发明所用激光器在可见光波段覆盖的光波长点多,易于获得,可针对紫外光波长测量仪器进行多波长点、大范围的波长校准,利用可见光波长计对激光器波长实时监测,不必选用激光器即可实现校准能力的提高,降低结构复杂度,填补了现阶段光波长校准在紫外波段的空白。
搜索关键词: 一种 紫外光 波长 测量 仪器 校准 装置 方法
【主权项】:
一种紫外光波长测量仪器的校准装置,其特征在于,包括:可见光激光器、分光器、倍频系统、可见光波长计和待校准的紫外光波长测量仪器;可见光激光器与分光器相连,用于输出频率稳定的可见光波段激光;分光器分别与倍频系统、可见光波长计相连,将激光器输出的可见光分为两路,分别作为倍频系统和可见光波长计的输入;倍频系统将输入的可见光倍频为紫外光;可见光波长计实时监测激光器输出的可见光波长值;倍频系统的输出端与待校准的紫外光波长测量仪器相连,测得的光波长值与可见光波长计监测的波长值进行比对,完成对紫外光波长测量仪器的校准。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国电子科技集团公司第四十一研究所,未经中国电子科技集团公司第四十一研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201610349525.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top