[发明专利]基于有限元分析的交流回路抗工频磁场干扰的设计方法有效

专利信息
申请号: 201610350366.0 申请日: 2016-05-24
公开(公告)号: CN106055757B 公开(公告)日: 2019-09-10
发明(设计)人: 徐丽青;周兆庆 申请(专利权)人: 南京国电南自电网自动化有限公司
主分类号: G06F17/50 分类号: G06F17/50
代理公司: 南京纵横知识产权代理有限公司 32224 代理人: 董建林
地址: 211100 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种基于有限元分析的交流回路抗工频磁场干扰的设计方法,步骤1,建立保护测控装置的交流采样回路的仿真模型,得出X轴、Y轴、Z轴的磁通密度;步骤2,在无工频磁场干扰时,保护测控装置输出采样值I0;步骤3,在施加工频磁场干扰时,保护测控装置输出采样值I1,获取工频干扰与装置输出采样值的函数关系;步骤4,改变各交流采样回路模件的PCB布局布线,使ΔIX、ΔIY、ΔIZ满足GB/T 17626.8‑2006中5级试验的要求;步骤5,分析得出互感器交流采样回路的PCB布局布线方法,提出抗干扰措施。本发明提高了保护测控装置的互感器交流采样回路的抗工频磁场抗扰度。
搜索关键词: 基于 有限元分析 交流 回路 抗工频 磁场 干扰 设计 方法
【主权项】:
1.一种基于有限元分析的交流回路抗工频磁场干扰的设计方法,其特征在于:包括以下步骤,步骤1,建立保护测控装置的交流采样回路的仿真模型,通过毕奥‑萨伐尔定律、法拉第电磁感应定律,得出X轴的磁通密度BX、Y轴的磁通密度BY、Z轴的磁通密度BZ;步骤2,在无工频磁场干扰时,保护测控装置输出采样值I0;步骤3,在施加工频磁场干扰时,保护测控装置输出采样值I1,获取工频磁场干扰在X轴的变化量ΔIX、Y轴的变化量ΔIY、Z轴的变化量ΔIZ,根据Matlab的数值分析方法,得出BX与ΔIX的经验系数kX、BY与ΔIY的经验系数kY、BZ与ΔIZ的经验系数kZ;步骤4,根据kX、kY、kZ的大小,改变各交流采样回路模件的PCB布局布线,使ΔIX、ΔIY、ΔIZ满足GB/T 17626.8‑2006中5级试验的要求;步骤5,分析得出互感器交流采样回路的PCB布局布线方法,提出抗干扰措施。
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