[发明专利]一种基于半导体原件检测的电子设备探测装置

摘要

本发明公开一种基于半导体原件检测的电子设备探测装置，其特征在于，包括电源模块、发射模块、接收模块、报警模块、控制模块；电源模块分别与需要其他供电的模块相连，发射模块、接收模块、报警模块分别与控制模块相连。所述基于半导体原件检测的电子设备探测装置，它是谐波雷达技术的具体应用，通过谐波雷达的发射端向目标区域或目标物体发出S波段的高频基波(2.45‑3.6GHz)，由接收端捕获来自目标物体所产生的二次谐波(7‑7.5GHz)和三次谐波(10‑10.6GHz)，进行分析和处理后，给出基波发射前后的谐波变化规律，从而能够有效的识别出带有非线性结的电子设备。

主权项

一种基于半导体原件检测的电子设备探测装置，其特征在于，包括电源模块、发射模块、接收模块、报警模块、控制模块；电源模块分别与需要其他供电的模块相连，发射模块、接收模块、报警模块分别与控制模块相连；所述报警器为信号指示灯或发出鸣响的报警器；发射模块的组成包括信号发生源、第一功率放大器、第一带通滤波器和发射天线；所述信号发生源用于发射扫描信号，并将扫描信号传送至第一功率放大器；所述第一功率放大器用于接收信号发生源的扫描信号，并将扫描信号放大后传送至第一带通滤波器；所述带通滤波器用于接收功率放大器的放大后的扫描信号，去除放大扫描信号的高频干扰，并将去除高频干扰的放大扫描信号传送至发射天线；发射天线用于接收带通滤波器的去除高频干扰的放大扫描信号，并将信号发射至非线性结；所述信号发生源为谐波雷达；接收模块的组成包括第二带通滤波器和第二功率放大器；第二带通滤波器与接收天线相连接，接收接收天线再辐射的二次组合波，对再辐射的二次组合波进行过滤后传递至第二功率放大器；第二功率放大器接收第二带通滤波器的信号，将第二带通滤波器的信号进行低噪声放大处理；控制模块与第二功率放大器相连接，判断第二功率放大器的信号是否由金属或电子设备发出。